专利名称：一种金属材料线膨胀系数测量方法
技术领域：
本发明涉及一种测量技术，具体涉及一种用于材料线膨胀系数的测量方法。
背景技术：
目前对材料线膨胀系数的测量，已有许多较成熟的理论和方法，例如应变片法、压力计法、光杠杆法、光纤位移传感器法、干涉法等，但这些测量方法都存在一定的瓶颈，首先不能在线测量。由于以上方法必须把材料制作成特定的样品并放到测量仪器中来进行测
量，无法进行在线监测。还有就是光杠杆法、干涉法都要求被测材料的尺寸不能太�。叽绱蟮难啡菀资芡饨缫蛩氐挠跋欤热绮荒苁顾獠牧鲜苋染却佣跋觳饬拷峁木沸浴Ａ硗猓陨戏椒ㄖ荒懿饬恳晃较虻南吲蛘拖凳锊坏酵辈饬慷较虻南吲蛘拖凳囊�。
发明内容
本发明为了克服以上技术的不足，提供了一种利用莫尔条纹原理测量材料线膨胀系数的方法。本金属材料线膨胀系数测量方法，该方法包括如下步骤
(1).在常温下通过光栅刻制手段在待测金属表面刻划出若干条其角度与铅垂线锐角夹角为Θ的光栅条纹；
(2).在常温Tl下通过相机CXD拍摄采集由若干条光栅条纹组成的物光栅的数字图
像；
(3).将拍摄采集的物光栅数字图像通过计算机软件将其镜像得到与物光栅相对铅垂线对称的参考光栅的数字图像；
(4).将金属加热至温度为T2下通过相机CCD拍摄采集由若干条光栅条纹组成的膨胀后的物光栅的数字图像；
(5).将参考光栅与物光栅的数字图像相互叠加，得到莫尔条纹一；
(6).将参考光栅与膨胀后的物光栅的数字图像相互叠加，得到莫尔条纹二；
(7).将得到的莫尔条纹一和莫尔条纹二进行傅里叶变换、滤波处理，得到由莫尔条纹一形成的等差条纹一以及由莫尔条纹二形成的等差条纹二；
(8).对等差条纹一和等差条纹二通过极值法进行细化处理，得到由等差条纹一形成的细化后的等差条纹一和由等差条纹二形成的细化后的等差条纹二；
(9).将细化后的等差条纹一和细化后的等差条纹二通过最小二乘法分别计算出各自的等差条纹的斜率和倾角，以细化后的等差条纹一的条纹方向作为测量系统X轴方向，将细化后的等差条纹二和细化后的等差条纹一的倾角相减，得到相应温度变化引起的等差条纹倾角相对于测量系统X轴的该变量彦及定标后的斜率I = taftZi ;(10).根据公式
权利要求
1.一种金属材料线膨胀系数测量方法，该方法包括如下步骤 (1).在常温下通过光栅刻制手段在待测金属表面刻划出若干条其角度与铅垂线锐角夹角为Θ的光栅条纹； (2).在常温Tl下通过相机CXD拍摄采集由若干条光栅条纹组成的物光栅的数字图像； (3).将拍摄采集的物光栅数字图像通过计算机软件将其镜像得到与物光栅相对铅垂线对称的参考光栅的数字图像； (4).将金属加热至温度为T2下通过相机CCD拍摄采集由若干条光栅条纹组成的膨胀后的物光栅的数字图像； (5).将参考光栅与物光栅的数字图像相互叠加，得到莫尔条纹一； (6).将参考光栅与膨胀后的物光栅的数字图像相互叠加，得到莫尔条纹二； (7).将得到的莫尔条纹一和莫尔条纹二进行傅里叶变换、滤波处理，得到由莫尔条纹一形成的等差条纹一以及由莫尔条纹二形成的等差条纹二； (8).对等差条纹一和等差条纹二通过极值法进行细化处理，得到由等差条纹一形成的细化后的等差条纹一和由等差条纹二形成的细化后的等差条纹二； (9).将细化后的等差条纹一和细化后的等差条纹二通过最小二乘法分别计算出各自的等差条纹的斜率和倾角，以细化后的等差条纹一的条纹方向作为测量系统X轴方向，将细化后的等差条纹二和细化后的等差条纹一的倾角相减，得到相应温度变化引起的等差条纹倾角相对于测量系统X轴的该变量彦及定标后的斜率* = ; (10)·根据公式
2.根据权利要求I所述的金属材料线膨胀系数测量方法，其特征在于以相同的温度变化量逐步计算出若干个不同温度条件下的应变量匕，并以温度T为横坐标、应变量为纵坐标得到一条应变-温度曲线，利用最小二乘法对曲线进行线性拟合计算出拟合后的曲线斜率，根据公式=α-ΑΓ，该斜率即为材料在相应温度范围内的线膨胀系数α。
3.根据权利要求I或2所述的金属材料线膨胀系数测量方法，其特征在于所述光栅条纹与铅垂线的夹角Θ的取值大于等于1°小于等于10°。
4.根据权利要求3所述的金属材料线膨胀系数测量方法，其特征在于所述参考光栅与物光栅的图像相互叠加、参考光栅与膨胀后的物光栅相互叠加、莫尔条纹一和莫尔条纹二进行傅里叶变换、滤波处理以及等差条纹一和等差条纹二的极值法进行细化处理可以利用计算机软件进行处理。
5.根据权利要求4所述的金属材料线膨胀系数测量方法，其特征在于所述计算机软件为MATLAB软件。
全文摘要
本发明涉及一种用于材料线膨胀系数的测量方法。在常温下通过光栅刻制手段在待测金属表面刻划出光栅条纹、采集物光栅数字图像、制作参考光栅以及采集膨胀后的物光栅数字图像，之后通过将参考光栅与物光栅的数字图像相互叠加叠加得到莫尔条纹一，将参考光栅与膨胀后的物光栅的数字图像相互叠加莫尔条纹二，再通过傅里叶变换、滤波处理以及极值法进行细化处理得到相应的细化后的等差条纹一和由等差条纹二形成的细化后的等差条纹二。再通过最小二乘法法分别计算出各自的等差条纹的斜率和倾角，之后得到相应温度变化引起的等差条纹倾角相对于测量系统X轴的该变量计算定标后的斜率再计算出温度为T2时的应变量，最后即可计算出材料的膨胀系数。
文档编号G01N25/16GK102879418SQ20121037278
公开日2013年1月16日 申请日期2012年9月29日 优先权日2012年9月29日
发明者张莉, 荣振宇, 王少清, 王培吉, 张海鹍, 金毅 申请人:济南大学
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