专利名称：高阻测试电路的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种高阻测试电路。
背景技术：
在平常的高阻测试中，因为都是直流测试，所以在测试输出端需要接入大容量的滤波电容，而本身的被测电阻都是GQ甚至是ΤΩ级别的。测试回路电路可见图1。这样就可知当一次测试开始后，从给被测电阻加压到最后电压稳定需要很长的一段时间。而且电阻越大时间越长。需要的直流电压纹波系数越�。璧牡缛菀簿驮酱螅嘤Φ募友购笪榷ㄊ奔湟簿驮匠�。鉴于在绝缘高阻测试仪中的电阻测试范围往往从1ΜΩ到GQ甚至是T Ω的级别，如图2，我们在电路中就往往需要加入换挡的功能，再加上大容量的滤波电容,换一次档位以后到数值稳定的时间不容忽视，如果从最低档位换到最高档位的这样一来，整个的测试稳定时间最起码要在五秒以上。但是企业在实际的生产测试应用中，企业的要求确实要越快越好，所以这样的功能往往达不到企业对于实际应用的要求。企业为了满足时间的要求往往只能增加测试设备的采购数量。增加了大量的生产成本。
发明内容本实用新型的目的在于提供一种高阻测试电路，可以大大提高高阻测试所用的时间。为了实现以上目的，本实用新型所采用的技术方案是:高阻测试电路，包括降压�？�、整流�？楹筒馐阅？椋笛鼓？榈氖涑龆肆诱髂？榈氖淙攵耍髂？槲馐阅？樘峁┪榷ǖ闹绷鞯缪梗涮卣髟谟冢拱ˋD转换�？�、控制器、显示�？楹捅ň？椋籄D转换�？榻馐阅？榈拇饽Ｄ獾缪棺晃值缪梗⑶沂淙氲娇刂破鳎幌允灸？橛氡ň？橛肟刂破鞯腎O端口相连。所述控制器是一个单片机。与现有技术相比，本实用新型的优点在于:本实用新型电路可以大大提高高阻测试所用的时间。
图1是现有闻阻测试电路原理不意图；图2是现有带分档功能的高阻测试电路原理示意图；图3是本实用型电路原理示意图。其中，Vv是电压取样点，Vi是电流取样点，Rl是限流电阻，Rx是待测电阻；1是降压�？椋�2是整流�？椋�3是测试�？椋徊馐阅？槲际醪幌晗该枋�。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型做进一步说明。高阻测试电路，包括降压�？�、整流�？楹筒馐阅？椋笛鼓？榈氖涑龆肆诱髂？榈氖淙攵耍髂？槲馐阅？樘峁┪榷ǖ闹绷鞯缪梗涮卣髟谟冢拱ˋD转换�？�、控制器、显示�？楹捅ň？椋籄D转换�？榻馐阅？榈拇饽Ｄ獾缪棺晃值缪梗⑶沂淙氲娇刂破鳎幌允灸？橛氡ň？橛肟刂破鞯腎O端口相连。所述控制器是一个单片机。如图2可见，在一般的高阻测试中，自动换挡电路是这样的，一般取样电压不变，电流越小说明电阻越大，反之电流越大说明电阻越大。换挡电流数值大则往低位换挡，电流数值小则往高位换挡。如果电路起始为1ΜΩ-1ΜΩ档位，而被测电阻为10000ΜΩ，那么我们可以得出中间所要换的档位为1ΜΩ — 1ΜΩ，1ΜΩ—100ΜΩ , 100MΩ —1000MΩ , 1000MΩ —1000M Ω四个档位，每个档位的数据稳定期为I秒的话，那么这次测试完成最起码也要4秒才能结束。企业在平常的流水线检测中，大多数时并不需要知道每个产品的具体绝缘值，只需要知道产品符合标准的最低绝缘电阻值就行了。此时我们只需要在程序设置中判断这个报警绝缘电阻值是多少，然后把档位固定在对应的这个报警电阻值即可。如报警电阻值为 50M，而我们的档位设置为 1ΜΩ — 1ΜΩ，1ΜΩ — 10ΜΩ，100MΩ — 1000MΩ , 1000MΩ —10000MΩ四个档位。此时我就在程序中直接把测试档位设置在IOMΩ — 100MΩ这一档。启动测试，当被测件绝缘电阻大于本档位上限则不换挡直接显示pass，当被测件绝缘电阻低于本档位下限也不换挡直接报警。被测件电阻只在10ΜΩ — 100ΜΩ档位才会显示出电阻值，并判断是否在小于50M而需要报警。这样我们就不需要换挡的时间，只有因为滤波电容而存在的稳定时间。可以大大节约测试时间，从而满足企业流水线测试所需的时间。如需要精确测试时只需要改变状态，就可以得到被测电阻的精确值。也不像一般的分选仪只能粗略的定性测量而无法精确的定量测试。因此非常具备推广价值。如图3，本实用新型工作原理:(Vv/R2) * (R+R2)得到待测电阻支路的电压，Vi/R3(假设连接的是R3)得到该支路电流，Rx=(Vv/R2)*(R+R2)/ (Vi/R3)。
权利要求1.高阻测试电路，包括降压�？椤⒄髂？楹筒馐阅？椋笛鼓？榈氖涑龆肆诱髂？榈氖淙攵耍髂？槲馐阅？樘峁┪榷ǖ闹绷鞯缪梗涮卣髟谟冢拱ˋD转换�？�、控制器、显示模块和报警�？椋� AD转换�？榻馐阅？榈拇饽Ｄ獾缪棺晃值缪梗⑶沂淙氲娇刂破鳎� 显示�？橛氡ň？橛肟刂破鞯腎O端口相连。
2.根据权利要求1所述的高阻测试电路，其特征在于，所述控制器是一个单片机。
专利摘要本实用新型公开了一种高阻测试电路，包括降压�？椤⒄髂？楹筒馐阅？椋笛鼓？榈氖涑龆肆诱髂？榈氖淙攵耍髂？槲馐阅？樘峁┪榷ǖ闹绷鞯缪梗涮卣髟谟冢拱ˋD转换�？�、控制器、显示�？楹捅ň？椋籄D转换模块将测试�？榈拇饽Ｄ獾缪棺晃值缪梗⑶沂淙氲娇刂破鳎幌允灸？橛氡ň？橛肟刂破鞯腎O端口相连。本实用新型高阻测试电路可以大大提高高阻测试所用的时间。
文档编号G01R27/02GK203164291SQ20132002200
公开日2013年8月28日 申请日期2013年1月16日 优先权日2013年1月16日
发明者杨雪冬, 赵其, 李求龙, 杨少伟 申请人:南京民盛电子仪器有限公司
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