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专利名称：一种实现光电经纬仪动基座测量的新方法
技术领域：
本发明涉及光电测量领域，特别是一种实现光电经纬仪动基座测量的新方法。
背景技术：
车载移动式光电经纬仪进行测量工作时，有两种工作方式落地测量和不落地测 量。落地测量就是光电经纬仪与载车脱离，落到地基环上进行测量；不落地测量就是光电 经纬仪与载车固定在一起，将载车固定，光电经纬仪在载车上进行测量。由于载车是可移动 的，所以又把不落地测量称为动基座测量。光电经纬仪是典型的光学测量仪器，它工作时不仅对环境、天气要求苛刻，而且承 载光电经纬仪的基座的稳定性也会直接影响它的测量精度。因此，提高动基座的刚度、增强 其稳定性是保证动基座测量精度的重要途径。动基座测量常用的方法是载车在场坪就位后，用机械支腿将车体顶起，使车轮卸 载，通常是由3至4个机械支腿支撑着车体，形成一个工作平台，经纬仪就在这个工作平台 上进行测量。由于载车车体是由3至4个机械支腿支撑，而机械支腿是可伸缩的，这使得机械支 腿的伸缩杆和固定座之间存在间隙，当经纬仪转动时所引起的振动就使得载车车体产生微 小的转动，这种微小的移动可使经纬仪产生几十秒的误差，因此这种不落地测量方法对经 纬仪测量精度影响较大。因此，研制出一种一种光电经纬仪动基座测量的新方法势在必行。

发明内容
针对上述情况，为了解决现有技术的缺陷，本发明的目的就在于提供一种实现光 电经纬仪动基座测量的新方法，可以有效的提高经纬仪的测量精度。本发明解决技术问题采用的技术方案是，一种实现光电经纬仪动基座测量的新方 法，具体步骤如下1)将光电经纬仪安装在具有四轮独立悬架的光电经纬仪载车内部；2)步骤1)所述的具有四轮独立悬架的光电经纬仪载车放置在与光电经纬仪载车 相对应的场坪上，将光电经纬仪载车的底盘对应场坪底盘接触区，将光电经纬仪对应场坪 上的测量基准点；3)调节步骤1)所述的光电经纬仪载车的车体，降低车体高度至载车底盘大梁着 地；4)光电经纬仪开始工作，实现光电经纬仪的动基座测量。本发明采用具有独立悬架的载车，可以调节载车车身高度，而且取消了机械支腿， 从而减少了影响经纬仪精度的因素，提高了经纬仪的精度。


图1是通过机械支撑腿支撑的光电经纬仪载车的光电经纬仪工作示意图。
图2是本发明的光电经纬仪载车底盘着地的光电经纬仪工作示意图。图3是本发明的场坪示意图。图中，1、光电经纬仪，2、经纬仪载车，3、机械支腿，4、场坪，5、底盘大梁，6、测量基 准点，7、场坪车体底盘接触区。
具体实施例方式以下结合附图对本发明的具体实施方式
作详细说明。由图1至图3所示，本发明的一种实现光电经纬仪动基座测量的新方法，其特征在 于，具体步骤如下1)将光电经纬仪1安装在具有四轮独立悬架的光电经纬仪载车2内部；2)步骤1)所述的具有四轮独立悬架的光电经纬仪载车2放置在与光电经纬仪载 车2相对应的场坪4上，将光电经纬仪载车2的底盘对应场坪底盘接触区7，将光电经纬仪 1对应场坪4上的测量基准点6 ；3)调节步骤1)所述的光电经纬仪载车2的车体，降低车体高度至载车底盘大梁5 着地；4)光电经纬仪1开始工作，实现光电经纬仪的动基座测量。所述的光电经纬仪1与光电经纬仪载车2之间不放置二级减震器。本发明的光电经纬仪载车大梁落地测量的注意事项如下1、用于车体底盘大梁5落地测量的经纬仪载车车体应能升降；2、经纬仪载车车体与经纬仪之间的减振器应取消或移往它处；3、依据载车结构提出场坪土建要求。本发明采用具有独立悬架的载车，可以调节载车车身高度，而且取消了机械支腿， 从而减少了影响经纬仪精度的因素，提高的经纬仪的测量精度。
权利要求
1.一种实现光电经纬仪动基座测量的新方法，其特征在于，具体步骤如下1)将光电经纬仪(1)安装在具有四轮独立悬架的光电经纬仪载车O)内部；2)步骤1)所述的具有四轮独立悬架的光电经纬仪载车( 放置在与光电经纬仪载车 (2)相对应的场坪(4)上，将光电经纬仪载车O)的底盘对应场坪底盘接触区(7)，将光电 经纬仪⑴对应场坪⑷上的测量基准点(6)；3)调节步骤1)所述的光电经纬仪载车( 的车体，降低车体高度至载车底盘大梁(5) 着地；4)光电经纬仪(1)开始工作，实现光电经纬仪的动基座测量。
2.根据权利要求1所述的一种实现光电经纬仪动基座测量的新方法，其特征在于，所 述的光电经纬仪(1)与光电经纬仪载车( 之间不放置二级减震器。
全文摘要
本发明涉及光电测量领域，特别是一种实现光电经纬仪动基座测量的新方法。本发明通过改变光电经纬仪载车的放置形式，改变经纬仪测量的方式，采用具有独立悬架的载车，可以调节载车车身高度，而且取消了机械支腿，从而减少了影响经纬仪精度的因素，提高的经纬仪的测量精度。
文档编号G01C1/02GK102135422SQ20101061556
公开日2011年7月27日 申请日期2010年12月30日 优先权日2010年12月30日
发明者王守印, 王晓明 申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究