专利名称：电子探针试验用样品承载与位置调节支架的制作方法
技术领域：
本实用新型属于夹具技术领域，涉及一种针对于电子探针试验用样品承载与位置调节支架。
背景技术：
现代社会文明的发展对材料和构件的电子探针微观元素浓度分布特征的分析提出越来越高的要求，材料和构件取样尺寸的大小需得到足够的保证。分析样品承载支架的可承载样品尺寸的能力和高度方向位置可调节的范围对从材料或构件取样的范围至关重要。样品承载支架足够承载所要求尺寸的样品并对其位置进行调节是进行电子探针试验的基本前提。取样的尺寸越大，对材料分析的范围就越广，就越能代表材料整体的特征，越能反映材料真实的数据；另外，对某些样品分析时不宜对其进行破坏取样，如贵重首饰、关键物证等，因此，大尺寸的样品承载支架受到了广大相关试验人员、科研人员和工程技术人员的青睐。而据我们调研发现，现有的电子探针分析试验用的样品承载支架最大可承载的样品大小在Φ25Χ15πιπι以内，很多条件下不能满足对样品的分析试验要求，因此， 有必要提高样品承载支架的承载能力。
发明内容本实用新型的目的是提出一种能够满足大的承载样品分析试验要求的电子探针试验用样品承载与位置调节支架。本实用新型的技术方案是调节支架包括底盘、外框、铜套、调节板、限位块、螺纹顶柱，每个限位块上设有二组螺纹顶柱和一个螺纹杆，两个限位块用第一组螺纹顶柱固定在底盘的两侧，外框放置在底盘上并用第二组螺纹顶柱将外框与底盘固定在一起，底盘底部开有燕尾槽；外框的中部开有通孔，铜套置于外框的通孔中，螺纹杆顶在铜套上，铜套与调节板螺纹连接；调节板的底部开有调节槽。所述的铜套与外框的配合为间隙配合。所述的调节板的直径与铜套的内径相配合，调节板的直径为25mm 82mm。本实用新型的优点是本实用新型采用铜套与调节板的结构，结构简单、易于制作而且操作灵活、使用可靠，可承载最大至Φ82Χ 17mm大小不等的样品，并利用调节板在铜套内的相对高度调节样品分析面的位置，增加了电子探针分析样品取样大小和形状的灵活性；另外，由于限位块和螺纹顶柱的配合使用，使得承载样品的调节板与铜套和外框之间的配合稳定可靠，试验样品不会在电子探针试验过程中发生微小漂移，从而可以保证该支架使用的稳定性和试验数据的可靠性；特别对于某些不宜或不易被破坏的分析样品，可以使用本支架将样品本身不经任何破坏地直接放入电子探针样品室，同时利用调节板灵活调节样品分析面或样品中其它感兴趣区域的高度至电子探针试验分析所要求的高度位置，进行无损伤试验，从而获得全面的、真实而可靠的电子探针试验数据；本实用新型不仅大大提高了电子探针分析试样承载的可靠性和稳定性，而且突破了电子探针试验对试样大小和形状要求严格的局限性，有很高的相关科研试验应用和工程应用价值。
图1是本实用新型的结构示意图；图2是图1的后视图；图3是图1的仰视图。
具体实施方式
调节支架包括底盘1、外框2、铜套3、调节板5、限位块4、螺纹顶柱6，每个限位块 4上设有二组螺纹顶柱6和一个螺纹杆7，两个限位块4用第一组螺纹顶柱固定在底盘的两侧，外框放置在底盘上并用第二组螺纹顶柱将外框与底盘固定在一起，底盘底部开有燕尾槽；外框的中部开有通孔，铜套置于外框的通孔中，螺纹杆顶在铜套上，铜套与调节板螺纹连接；调节板的底部开有调节槽8。样品承载支架包括底盘1、外框2、铜套3、调节板5、限位块4、螺纹顶柱等。底盘底部开有燕尾槽9，中心部位开Φ20的圆孔，底盘和两侧限位块固定外框，保证底盘与外框配合的准确度，每个限位块通过其底部两组螺孔螺柱与底盘连接，并通过中间两组螺孔螺柱固定外框，外框内嵌入铜套和调节板，铜套与外框间隙配合，铜套和调节板之间通过螺纹配合，调节板上放置待分析样品并经底盘开孔通过其背面开槽借用螺丝刀调节至合适高度， 螺纹顶柱位于限位块顶部，通过外框螺孔顶于铜套外侧，使铜套产生微小变形以将调节板固定，防止使用过程中调节板连同样品产生动作从而影响电子探针分析精度，样品支架见图1。在装载样品时，根据样品大小在调节板上粘贴适当大小的导电胶，并将样品牢牢固定在调节板上，松开螺纹顶柱，借助螺丝刀从调节板底面的开槽调节样品的上分析表面高度至与外框上表面重合，拧紧螺纹顶柱以固定调节板，最后通过支架底盘的燕尾槽与电子探针样品台连接，放入电子探针样品室抽真空至合适值，即可对样品进行分析。首先，将样品通过导电胶固定在支架上，松开螺纹顶柱，然后通过调节板将样品的分析面调节至与外框上表面重合，固定螺纹顶柱，最后将样品支架固定在样品台上，即可将其放入电子探针样品室内进行分析。
权利要求1.一种电子探针试验用样品承载与位置调节支架，其特征是，调节支架包括底盘、夕卜框、铜套、调节板、限位块、螺纹顶柱，每个限位块上设有二组螺纹顶柱和一个螺纹杆，两个限位块用第一组螺纹顶柱固定在底盘的两侧，外框放置在底盘上并用第二组螺纹顶柱将外框与底盘固定在一起，底盘底部开有燕尾槽；外框的中部开有通孔，铜套置于外框的通孔中，螺纹杆顶在铜套上，铜套与调节板螺纹连接；调节板的底部开有调节槽。
2.根据权利要求1所述的电子探针试验用样品承载与位置调节支架，其特征是，所述的铜套与外框的配合为间隙配合。
3.根据权利要求1所述的电子探针试验用样品承载与位置调节支架，其特征是，所述的调节板的直径与铜套的内径相配合，调节板的直径为25mm 82mm。
专利摘要本实用新型属于夹具技术领域，涉及一种针对于电子探针试验用样品承载与位置调节支架。调节支架包括底盘、外框、铜套、调节板、限位块、螺纹顶柱，每个限位块上设有二组螺纹顶柱和一个螺纹杆，两个限位块固定在底盘的两侧，外框放置在底盘上并固定在一起，底盘底部开有燕尾槽；外框的中部开有通孔，铜套置于外框的通孔中，螺纹杆顶在铜套上，铜套与调节板螺纹连接；调节板的底部开有调节槽。本实用新型采用铜套与调节板的结构，可承载最大至Φ82×17mm大小不等的样品，并利用调节板的高度调节样品分析面的位置，增加了电子探针分析样品取样大小的灵活性，特别适用于某些不宜或不易破坏的分析样品，直接将样品本身放入样品室进行无损伤试验。
文档编号G01N23/225GK202230039SQ201120346158
公开日2012年5月23日 申请日期2011年9月14日 优先权日2011年9月14日
发明者何玉怀, 王祺, 范映伟, 赵文侠, 陶春虎 申请人:中国航空工业集团公司北京航空材料研究院, 试金石检测科技有限公司
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