专利名称：一种测试探针的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测试器具，尤其涉及一种测试探针。
(二)
背景技术：
一般情况下，印刷电路板及芯片在完成线路布置后，为确定每一条 线路皆可正常导通，通常必须予以测试，以将电子线路完好的印刷电路 板及芯片挑出，再将各电子元件固定在该印刷电路板及芯片上。现有的 测试探针由针套和针体组成，针体套于针套的前端，外露的部分形成探 测头。在使用时，针体的探测头与测试点相接触，针套的尾部通过导线 连接测试机。其存在的缺点是l.如果探测头呈圆弧状，在测试测试点 时容易滑动，就不能很好的对准测试点，也很容易测错测试点。2.进行 测试时，如果电路板或芯片上的焊接点较密时，用于测试的测试探针排 列的就较紧密，在通电测试时测试探针之间就会相互影响，严重时甚至 会产生电火花。
(三) 发明内容
为了克服现有测试探针在测试测试点时容易滑动的不足，本实用新 型提供一种在测试时不易滑动且能很快对准测试点的测试探针。
本实用新型的另一目即使在测试点较密集的检测件时相互间也不会 产生干扰的绝缘测试探针。
本实用新型解决其技术问题的技术方案是 一种测试探针，包括针 套和探针针体，所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头，所述 探针针体的后部装于所述针套的头部，所述针套的尾部通过导线与测试机相连接，所述的探测头上套设有一绝缘套，所述的绝缘套高出所述的 探测头。
所述针套的头部设有插接所述探针针体的插槽，便于将探针针体固 定在针套上。
所述探测头的结构可以根据不同测试点的实际情况而定，所述的探 测头可以呈圆弧状，所述的探测头还可以具有齿口。
本实用新型在使用时，将所述的探针针体插于所述针套的头部的
插槽内，所述探针针体的探测头接触测试点，所述针套的尾部通过导
线与测试机连接起来。
本实用新型的有益效果在于1.所述的绝缘套高出所述的探测头，
可以测试在绝缘套所覆盖范围内的插件，能准确测试，可以防止探测头
的滑动带来测试的不准。2.由于探测头上套设有一绝缘套，因此即使在
测试测试点较密集的检测件时相互间也不会产生干扰。
图1是本实用新型测试探针的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步详细说明。 图1是本实用新型测试探针的结构图，包括针套1和探针针体2，
所述探针针体2的前部为用于接触测试点的探测头3，所述探针针体2
的后部装于所述针套1的头部，所述针套1的尾部通过导线与测试机相
连接，所述的探测头3上套设有一绝缘套4，所述绝缘套4高出所述的 探测头3。所述针套1的头部设有插接所述探针针体2的插槽，将所述 的探针针体2插于所述针套1头部的插槽内，所述的探测头3呈圆弧状， 所述探针针体2的探测头3接触测试点，所述针套1的尾部与导线相连接，然后导线与测试机连接起来。由于探测头3上套设有一绝缘套4， 且绝缘套4高出探测头3，可以测试在绝缘套4所覆盖范围内的插件， 并能准确测试，可以防止探测头3的滑动带来测试的不准。由于探测头 3上套设有绝缘套4，即使在测试测试点较密集的检测件时相互间也不会 产生干扰。
权利要求1.一种测试探针，包括针套和探针针体，所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头，所述探针针体的后部装于所述针套的头部，所述针套的尾部通过导线与测试机相连接，其特征在于所述的探测头上套设有一绝缘套，所述的绝缘套高出所述的探测头。
2. 按照权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于所述针套的头 部设有插接所述探针针体的插槽。
3. 按照权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于所述的探测头 呈圆弧状。
4. 按照权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于所述的探测头 上具有齿口。
专利摘要一种测试探针，包括针套和探针针体，所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头，所述探针针体的后部装于所述针套的头部，所述针套的尾部通过导线与测试机相连接，所述的探测头上套设有一绝缘套，所述的绝缘套高出所述的探测头。所述针套的头部设有插接所述探针针体的插槽，将所述的探针针体的后部插于所述针套的头部，所述探针针体的探测头接触测试点，所述针套的尾部通过导线与测试机连接起来。所述的绝缘套高出所述的探测头，可以测试在绝缘套所覆盖范围内的插件，能准确测试，可以防止探测头的滑动带来测试的不准。由于探测头上套设有绝缘套，因此即使在测试测试点较密集的检测件时相互间也不会产生干扰。
文档编号G01R1/067GK201355367SQ20092011418
公开日2009年12月2日 申请日期2009年2月26日 优先权日2009年2月26日
发明者周燕明, 沈芳珍 申请人:沈芳珍
专业数控铣床产品供应商
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