专利名称：用于s波段雷达微波组件测试的信号转接专用设备的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种信号转接专用设备，尤其是微波组件测试系统用的信号转接 设备，具体地说是用于S波段雷达微波组件测试的信号转接专用设备。
背景技术：
雷达微波组件测试系统中，射频模块种类多，设备量大，此类模块结构复杂，并要 求严格的加电顺序和控制时序，需要测试的参数包括增益、相位、功率、频率、驻波、噪声系 数、频谱等，因此给测试带来了极大的困难。以前传统测试方法是利用单台或几台仪器进行 微波射频�？榈ジ黾际踔副甑氖侄馐裕馐允奔涑ぃ实停资艿饺宋蛩氐母扇牛� 试重复性差。因此，现有的测试系统无法满足实时切换、灵活和可扩展的要求。
发明内容本实用新型的目的是针对雷达微波组件测试系统中，射频�？橹掷喽啵璞噶看螅� 此类�？榻峁垢丛樱⒁笱细竦募拥缢承蚝涂刂剖毙虻奈侍猓岢鲆恢钟糜赟波段雷达 微波组件测试的信号转接专用设备。本实用新型的技术方案是一种用于S波段雷达微波组件测试的信号转接专用设备，它包括激励信号控制单 元、被测件DUT、测试信号控制单元、现场可编程门阵列FPGA，激励信号控制单元作为用于S 波段雷达微波组件测试的信号转接专用设备的输入接收源信号，激励信号控制单元的信号 输出端与被测件DUT的信号输出端相连，被测件DUT的信号输出端与测试信号控制单元的 信号输入端相连，激励信号控制单元、被测件DUT和测试信号控制单元的控制信号输入端 与现场可编程门阵列FPGA对应的各控制信号输出端相连，测试信号控制单元的信号输出 端作为用于S波段雷达微波组件测试的信号转接专用设备的输出输出各测试信号与相应 的测试仪器相连。本实用新型的激励信号控制单元包括信号通道选择模块和信号功能扩展模块，所 述的信号通道选择�？楹托藕殴δ芾┱鼓？榈男藕攀淙攵朔直鹱魑だ藕趴刂频ピ� 输入接收各自对应的源信号，信号通道选择�？楹托藕殴δ芾┱鼓？榈母餍藕攀涑龆俗魑� 激励信号控制单元的输出与被测件DUT的信号输入端相连。本实用新型的测试信号控制单元包括通道驻波改善�？�、第一开关矩阵、衰减器 和第二开关矩阵，所述的通道驻波改善�？樽魑馐孕藕趴刂频ピ男藕攀淙攵擞氡徊饧� DUT的信号输出端相连，通道驻波改善�？榈男藕攀涑龆擞氲谝豢鼐卣蟮男藕攀淙攵讼� 连，第一开关矩阵的信号输出端与衰减器的信号输入端相连，衰减器的信号输出端与第二 开关矩阵的信号输入端相连，第二开关矩阵的信号输出端作为测试信号控制单元的输出即 用于S波段雷达微波组件测试的信号转接专用设备的输出输出各测试信号与相应的测试 仪器相连。本实用新型的有益效果
3[0009]本实用新型的信号转接专用设备是基于自动化测试思路来设计的，信号转接专用 设备是构建S波段雷达微波组件自动测试系统时实现开放性、灵活性和可扩展性的关键设 备。信号转接专用设备主要完成测试通道建立、信号调理、信号采集和取样、测试端口适配 和被测件电源分配等功能。本实用新型的通道驻波改善�？椋沟猛纷げㄐ∮�1. 2，通过驻波的改善，提高 了测试精度。本实用新型可实现微波模块参数的自动测量功能，具有方便、灵活和可扩展性高 的优点。
图1是本实用新型的原理框图。图2是本实用新型信号通道选择�？榈牡缭硗�。图3是本实用新型信号功能扩展�？榈牡缭硗�。图4是本实用新型通道驻波改善�？榈牡缭硗�。图5是本实用新型第一开关矩阵、衰减器和第二开关矩阵的电原理图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本实用新型作进一步的说明。如图1所示，一种用于S波段雷达微波组件测试的信号转接专用设备，它包括 激励信号控制单元、被测件DUT、测试信号控制单元、现场可编程门阵列FPGA(型号为 EP2C8Q208)，激励信号控制单元作为用于S波段雷达微波组件测试的信号转接专用设备的 输入接收源信号，激励信号控制单元的信号输出端与被测件DUT的信号输出端相连，被测 件DUT的信号输出端与测试信号控制单元的信号输入端相连，激励信号控制单元、被测件 DUT和测试信号控制单元的控制信号输入端与现场可编程门阵列FPGA对应的各控制信号 输出端相连，测试信号控制单元的信号输出端作为用于S波段雷达微波组件测试的信号转 接专用设备的输出各测试信号与相应的测试仪器相连。所述的被测件DUT为各种微波组 件，如发射�？�、接收�？榈�。本实用新型的激励信号控制单元包括信号通道选择�？楹托藕殴δ芾┱鼓？椋� 述的信号通道选择�？楹托藕殴δ芾┱鼓？榈男藕攀淙攵朔直鹱魑だ藕趴刂频ピ� 输入接收各自对应的源信号，信号通道选择�？楹托藕殴δ芾┱鼓？榈母餍藕攀涑龆俗魑� 激励信号控制单元的输出与被测件DUT的信号输入端相连。本实用新型的测试信号控制单元包括通道驻波改善模块、第一开关矩阵、衰减器 和第二开关矩阵，所述的通道驻波改善�？樽魑馐孕藕趴刂频ピ男藕攀淙攵擞氡徊饧� DUT的信号输出端相连，通道驻波改善�？榈男藕攀涑龆擞氲谝豢鼐卣蟮男藕攀淙攵讼� 连，第一开关矩阵的信号输出端与衰减器的信号输入端相连，衰减器的信号输出端与第二 开关矩阵的信号输入端相连，第二开关矩阵的信号输出端作为测试信号控制单元的输出即 用于S波段雷达微波组件测试的信号转接专用设备的输出各测试信号与相应的测试仪器 相连。信号转接专用设备的前面板设计了 4个激励输入端口和2个输出端口。4路激励输入是考虑到测试混频器件时满足其最多需要的激励输入信号通道，2路输出端口是考虑 到小功率信号和大功率信号输出，通过配置不同承受功率的衰减器和开关通道控制，用户 可得到适当的信号输入功率和输出功率。后面板设计了 5个源信号端口和8个测试信号输 出端口，用户可根据需要任意扩展或减少源信号和测试信号端口。5个源信号通道是将S波 段微波�？椴馐灾锌赡苡玫降脑葱藕牛缧藕旁础⑹竿�、噪声源、脉冲信号发生器、可程控线 性放大器，通过激励信号控制单元由前面板4激励输入端口组合输出。8个测试信号端口接 到测试用仪器上如频谱仪、功率计、频率计、万用表等。在S波段微波通路中，端口驻波是一 项非常重要的指标要求，在本专用设备中根据频段不同，采用了通道驻波改善�？椋沟猛� 路驻波小于1. 2，通过驻波的改善，提高了测试精度。本实用新型还包括电源单元，电源单元为被测件提供各组正负电压，程控电源的 输出电压只能是单向电压，通过电源单元电路可实现极性转换。在操作上，用户只需连接相 应的输入输出端口，通过计算机的USB 口控制各测试仪器的GPIB或LAN接口，设置各仪器 的工作状态，可实现微波�？椴问淖远饬抗δ�。方便、灵活、可扩展。本实用新型未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现。
权利要求一种用于S波段雷达微波组件测试的信号转接专用设备，其特征是它包括激励信号控制单元、被测件DUT、测试信号控制单元、现场可编程门阵列FPGA，激励信号控制单元作为用于S波段雷达微波组件测试的信号转接专用设备的输入接收源信号，激励信号控制单元的信号输出端与被测件DUT的信号输出端相连，被测件DUT的信号输出端与测试信号控制单元的信号输入端相连，激励信号控制单元、被测件DUT和测试信号控制单元的控制信号输入端与现场可编程门阵列FPGA对应的各控制信号输出端相连，测试信号控制单元的信号输出端作为用于S波段雷达微波组件测试的信号转接专用设备的输出输出各测试信号与相应的测试仪器相连。
2.根据权利要求1所述的用于S波段雷达微波组件测试的信号转接专用设备，其特征 是所述的激励信号控制单元包括信号通道选择模块和信号功能扩展�？椋龅男藕磐ǖ� 选择�？楹托藕殴δ芾┱鼓？榈男藕攀淙攵朔直鹱魑だ藕趴刂频ピ氖淙虢邮崭髯� 对应的源信号，信号通道选择�？楹托藕殴δ芾┱鼓？榈母餍藕攀涑龆俗魑だ藕趴刂� 单元的输出与被测件DUT的信号输入端相连。
3.根据权利要求1所述的用于S波段雷达微波组件测试的信号转接专用设备，其特征 是所述的测试信号控制单元包括通道驻波改善�？椤⒌谝豢鼐卣蟆⑺ゼ跗骱偷诙鼐� 阵，所述的通道驻波改善模块作为测试信号控制单元的信号输入端与被测件DUT的信号输 出端相连，通道驻波改善�？榈男藕攀涑龆擞氲谝豢鼐卣蟮男藕攀淙攵讼嗔谝豢� 矩阵的信号输出端与衰减器的信号输入端相连，衰减器的信号输出端与第二开关矩阵的信 号输入端相连，第二开关矩阵的信号输出端作为测试信号控制单元的输出即用于S波段雷 达微波组件测试的信号转接专用设备的输出输出各测试信号与相应的测试仪器相连。
专利摘要一种用于S波段雷达微波组件测试的信号转接专用设备，它包括激励信号控制单元、被测件、测试信号控制单元、现场可编程门阵列FPGA，激励信号控制单元作为用于S波段雷达微波组件测试的信号转接专用设备的输入接收源信号，激励信号控制单元的信号输出端与被测件DUT的信号输出端相连，被测件的信号输出端与测试信号控制单元的信号输入端相连，激励信号控制单元、被测件和测试信号控制单元的控制信号输入端与FPGA对应的各控制信号输出端相连，测试信号控制单元的信号输出端作为信号转接专用设备的输出与相应的测试仪器相连。本实用新型可实现微波�？椴问淖远饬抗δ埽哂蟹奖�、灵活和可扩展性高的优点。
文档编号G01S7/40GK201637844SQ20092028274
公开日2010年11月17日 申请日期2009年12月30日 优先权日2009年12月30日
发明者倪亦君, 杨为禄 申请人:南京国睿安泰信科技股份有限公司
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