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专利名称：射频识别设备的测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及电路结构，尤其涉及一种射频识别设备的测试装置。
背景技术：
射频识别(Radio Frequency Identification，RFID)技术是一种非接触式的自动识别技术，其基本原理是以电磁场为媒介进行能量和信息的交互，实现对目标物体的自动识别。与其他的自动识别技术如条形码、磁卡、接触式IC卡等相比，射频识别技术具有非接触性、读写速度快捷方便、存储容量大、识别效率高、安全性能好等诸多优点，已被广泛应用于物流、门禁、医疗、交通、防伪、军事等领域。如图1所示，现有的RFID设备主要包括个人计算机(Personal Computer,PC) 101、读写器102、读写器天线103、标签芯片104和标签天线105五大组件。其中，读写器是一个典型的收发机系统，可以采用收发分离的双天线方式或者采用收发合并的单天线方式工作，与标签进行能量传输和数据交换。通常，标签芯片和标签天线组成标签，标签芯片是RFID设备的数据载体，可以存储商品或者物体的基本信息。当附着有标签的物体进入读写器天线的工作场区范围内，读写器和标签通过电场或者磁场耦合的方式实现两者之间的数据交互。根据RFID设备的工作频率不同，可将其分为低频(Low Frequency，LF)、高频(High Frequency, HF)、超高频(Ultra High Frequency, UHF)和微波(Microwave，MW)等四个频段。频段不同，工作特性也不同。通常，低频和高频的RFID设备基于电感耦合的基本原理，其通信距离较短；超高频和微波频段的RFID设备基于电磁耦合反向散射的基本原理，其通信距离较长；超高频的RFID设备由于具有较远的识别距离、较快的通信速率和较小的天线尺寸而得到广泛应用。在RFID设备(如标签、读写器)投入使用之前均需要对其进行测试，以使投入运营的设备能够正常使用。RFID设备的测试包括读写器测试和标签测试两种。其中，读写器测试一般测量读写器的发射和接收性能；而标签测试不仅要测试标签及其天线的性能，也要测试标签中单个标签芯片的性能。因此，如何提高测试精度、测试效率以及保证测试的可重复性成为当前检测射频识别设备非常关键的技术。现有技术中的测试装置大多利用自动化控制软件和测试设备实现对射频识别设备的自动化测试。然而，测试目标(如读写器的某一工作参数、标签的某一工作参数)不同，外围器件(如功率放大器、功分器、数控衰减器等)的连接关系也不同，由此需要人工拆除以前的连接线，并按照新测试方案连接测试电路。也就是说，针对标签芯片、标签的测试电路和对读写器的测试电路结构不同。在实际测试过程中，需要手动改变各外围器件的连接关系才能实现对各种不同设备的测试；但是手动改变外围器件的连接关系会带来测试误差大，重复性低、且花费时间长的问题
发明内容
针对现有技术的缺陷，本发明提供一种射频识别设备的测试装置。本发明一方面提供的射频识别设备的测试装置，其包括可编程控制单元和分别连接所述可编程控制单元的无线发射测试单元，无线接收测试单元，有线发射测试单元、有线接收测试单元；所述无线发射测试单元，用于测试射频识别设备的无线发射参数；所述无线接收测试单元，用于测试所述射频识别设备的无线接收参数；所述有线发射测试单元，用于测试所述射频识别设备的有线发射工作参数；所述有线接收测试单元，用于测试所述射频识别设备的有线接收工作参数；其中，所述无线发射测试单元、无线接收测试单元、有线发射测试单元和有线接收测试单元中的一个或多个测试单元的一连接端连接待测的射频识别设备，其他连接端(各测试单元中除连接待测的射频识别设备以外的连接端)连接辅助设备；所述可编程控制单元根据用户输入的测试指令控制所述无线发射测试单元、无线接收测试单元、有线发射测试单元、有线接收测试单元分别对所述射频识别设备进行测试。由上述技术方案可知，本发明的射频识别设备的测试装置在可编程控制单元的控制下按照预设的测试指令自动完成各种射频识别设备的性能的测试，实现测试的自动化，大大减少人工干预，提高测试效率并保证测试的重复性。另外，上述的测试装置上集成有测试射频识别设备所用到的所有外围器件。


图1为现有技术中射频识别设备的结构示意图；图2为本发明一实施例提供的射频识别设备的测试装置的结构示意图；图3A为本发明另一实施例提供的射频识别设备的测试装置的结构示意图；图;3B为本发明另一实施例提供的射频识别设备的测试装置的结构示意图；图4为本发明另一实施例提供的射频识别设备的测试装置的结构示意图。
具体实施例方式在本发明中，射频识别设备包括双端口的读写器，单端口的读写器、标签，标签芯
Jn寸。单端口的读写器为发射端口和接收端口为同一个端口 ；双端口的读写器为发射端口和接收端口为分开的读写器；标签由标签芯片和天线组成。如图2所示，图2示出了本发明一实施例提供的射频识别设备的测试装置的结构示意图，本实施例的射频识别设备的测试装置包括可编程控制单元201和连接可编程控制单元201的无线发射测试单元203，无线接收测试单元204，有线发射测试单元205和有线接收测试单元206。其中，无线发射测试单元203、无线接收测试单元204、有线发射测试单元205和有线接收测试单元206中的一个或多个测试单元的一连接端连接待测的射频识别设备，其他连接端(该处的其他连接端为未连接待测的射频识别设备的各测试单元的连接端)连接辅助设备。举例来说，有线发射测试单元205的输出端连接待测的标签芯片，此时有线发射测试单元205的输入端可连接已知的读写器，同时其他测试单元的连接端也可连接辅助设备如射频信号源、频谱仪、负载等。当然，本实施例中辅助设备可包括已知的读写器、已知的标签、已知的标签芯片等。用于辅助测试待测的射频识别设备的设备均可属于本实施例中的辅助设备。另外，无线发射测试单元203用于测试射频识别设备(如读写器、标签)中的无线发射参数；无线接收测试单元204用于测试射频识别设备(如读写器、标签)的无线接收参数(如接收灵敏度、接收最大输入功率等)；有线发射测试单元205用于测试射频识别设备的有线发射工作参数(例如，发射功率和频率精度等)；有线接收测试单元206用于测试射频识别设备中的有线接收工作参数。本实施例中的可编程控制单元201根据用户输入的测试指令控制无线发射测试单元203、无线接收测试单元204、有线发射测试单元205、有线接收测试单元206分别对射频识别设备进行测试。特别地，为提高测量射频识别设备(读写器、标签)的准确率，本实施例中的测试装置还包括连接可编程控制单元201的校准单元202 ；该校准单元还分别连接无线发射测试单元203，无线接收测试单元204，有线发射测试单元205和有线接收测试单元206 ；其用于获取无线发射测试单元203、无线接收测试单元204，有线发射测试单元205和有线接收测试单元206的信号衰减量即各个测试单元所在的线路/电路上的信号衰减量。在实际应用中，校准单元202可连接无线发射测试单元203的输出端、无线接收测试单元204的输入端、有线发射测试单元205的输出端、有线接收测试单元206的输入端。本实施例中的射频识别设备的测试装置还可以将所有用到的外围器件(如第一数控衰减器、功分器、功率放大器等)全部集成到测试装置中，从而在可编程控制单元的控制下按照预设的测试指令自动完成各种射频识别设备的性能的测试，实现测试的自动化，减少了人工干预，提高了测试效率并保证测试的重复性。如图3A所示，图3A示出了本发明一实施例提供的射频识别设备的测试装置的结构示意图，本实施例的射频识别设备的测试装置为一例举的具体电路结构。本实施例中的测试装置主要包括第一环形器301、第二环形器303、多个开关(如图3A中所示的Kl至K13 ；S6US62 ；S4US42)和多个外围器件(如图3A中所示的功率放大器、第一功分器、第二功分器、第一数控衰减器、第二数控衰减器等)。本实施例中的测试装置主要是是利用可编程控制单元201控制该测试装置中部分或全部开关的闭合或断开，以实现各个测试单元的切换，进而可完成对待测试的各种射频识别设备(如读写器、标签)的测试，实现了射频识别设备测试的自动化。从图3A中还可获知，本实施例中电路结构的测试装置的发射侧和接收侧可为对称的电路结构，其对称轴可为第一环形器和第二环形器连接的直线。也就是说，用以实现无线发射测试单元功能的电路与用以实现无线接收测试单元功能的电路可对称，用以实现有线发射测试单元功能的电路与用以实现有线接收测试单元功能的电路也可对称。特别地，图3A中的无线发射测试单元的电路中串接有用于方法发射信号的功率放大器。结合图2和图3A所示，本实施例中的第一环形器301的第一接口 η连接读写器302，第二接口 ρ连接有线发射测试单元205的输入端，第三接口 q连接有线接收测试单元206的输出端；第二环形器303的第一接口 η连接射频识别设备的待测的标签，第二接口 P连接有线发射测试单元205的输出端，第三接口 q连接有线接收测试单元206的输入端。应了解的是，前述的有线发射测试单元205和有线接收测试单元206通过第一环形器、第二环形器可较好的将发射信号和接收信号分离。通常，第一环形器301、第二环形器303各自的第一接口均用于连接同时能够发射信号和接收信号的设备(该设备可为射频识别设备或辅助设备)，如读写器、标签、标签芯片等。若第一环形器的第一接口连接待测的读写器，则第二环形器的第一接口可连接已知的标签。如图3A所示，在具体的电路结构中，有线发射测试单元可包括第一开关K2、第二开关S61、第三开关S41、至少一个外围器件；其中，第一开关K2、第二开关S61、第三开关S41均具有多个接触端和一个连接可编程控制单元的控制端；可编程控制单元控制第一开关K2、第二开关S61、第三开关S41形成至少一个第一信号发射通路；至少一个外围器件串接在第一信号发射通路上；该处的第一信号发射通路的接收端连接第一环形器301的第二接口 P，第一信号发射通路的输出端连接第二环形器303的第二接口 ρ。图3A中所示的第二开关S61的一接触端和第三开关S41的一接触端之间连接一用于改变第一信号发射通路上的信号衰减量的第一数控衰减器。举例来说，针对单端口的读写器，实现有线发射测试单元205功能的电路可包括图3A中所示的第一开关K2、第二开关S61和第三开关S41 ；针对双端口的读写器，实现有线发射测试单元205功能的电路可包括图3A中所示的第七开关Kl、第一开关K2、第二开关S61和第三开关S41。如图3A所示，第一开关K2、第二开关S61、第三开关S41组成的通路中也可包括至少一个外围器件(如第一数控衰减器)。第七开关K1、第一开关K2、第二开关S61和第三开关S41组成的通路中也包括至少一个外围器件(如第一功分器)。本实施例中的第二开关S61为具有六个接触端(如图中所示的a、b、c、d、e、f接触端)的开关，控制端m连接可编程控制单元201(图3A中未示出可编程控制单元)；第三开关S41为具有三接触端(如图3A中所示的a、b、c接触端)的开关，控制端m连接可编程控制单元201，第一开关K2和第七开关Kl均为具有两个接触端(如图3A中所示的a、b接触端)的开关，控制端m连接可编程控制单元201。图3A中所示的第二开关S61的一 e接触端和第三开关S41的一 c接触端之间连接一用于改变第一信号发射通路上的信号衰减量的第一数控衰减器304。当然，在其它实施例中，可以设置第二开关S61为六个接触端以上的开关，第三开关S41为三个接触端以上的开关，由此可以在第二开关S41的接触端和第三开关S61的接触端之间设置其他的用于测试读写器的发射工作参数的外围器件。应了解的是，图3A中所示的第二开关S61的接触端d和第三开关S41的接触端b之间未连接外围器件，此设置是用于校准单元方便校准该通路，以提高测量的精度。相应地，有线接收测试单元包括第四开关K4、第五开关S62、第六开关S42、至少一个外围器件；其中，第四开关K4、第五开关S62、第六开关S42均具有多个接触端和一个连接可编程控制单元的控制端。可编程控制单元控制第四开关K4、第五开关S62、第六开关S42形成至少一个第一信号接收通路。至少一个外围器件(如图3A中的第二数控衰减器305)串接在第一信号接收通路上；举例来说，在第五开关S62的一接触端和第六开关S42的一接触端之间连接一用于改变第一信号接收通路上的信号衰减量的第二数控衰减器。第一信号接收通路的接收端连接第二环形器的第三接口 ；第一信号接收通路的输出端连接第一环形器的第三接口。针对单端口的读写器，实现有线接收测试单元206功能的电路可包括图3A中所示的第四开关K4、第五开关S62和第六开关S42 ；针对双端口的读写器，实现有线接收测试单元206功能的电路可包括图3A中所示的第八开关K3、第四开关K4、第五开关S62和第六开关 S42。举例来说，图3A中所示的第五开关S62为具有五个接触端(如图3A中所示的a、b、c、d、e接触端)的开关，控制端m连接可编程控制单元201 ；第六开关S42为具有三接触端(如图3A中所示的a、b、c接触端)的开关，控制端m连接可编程控制单元201 ；第四开关K4和第八开关K3为具有两个接触端(如图3A中所示的a、b接触端)的开关，控制端m连接可编程控制单元201。第五开关S62的一 b接触端和第六开关S42的一 a接触端之间连接一第二数控衰减器305。当然，在其它实施例中，可以根据实际需要设置(增加或减少)前述的任一开关的接触端，以满足测试读写器的接收工作参数或发射工作参数的外围器件的连接需求。结合图2和图3A所示，用以实现无线发射测试单元203功能的电路包括第七开关K1、第一开关K2、第二开关S61。该处的第七开关Kl具有多个接触端和一个连接可编程控制单元的控制端。其中，可编程控制单元201控制第七开关K1、第一开关K2、第二开关S61形成至少一个第二信号发射通路；第二信号发射通路的接收端连接射频识别设备的发射端口或辅助设备(如射频信号源、或如图3A中所示的发射机306)，第二信号发射通路的输出端连接发射天线或辅助设备(如负载)。也就是说，本实施例中的无线发射测试单元203的输入端连接射频识别设备的发射端口，无线发射测试单元203的输出端连接射发射天线307。相对应地，用以实现无线接收测试单元204功能的电路包括第八开关K3、第四开关K4和第五开关S62。该处的第八开关K3具有多个接触端和一个连接可编程控制单元201的控制端。其中，可编程控制单元控制第八开关K3、第四开关K4、第五开关S62形成至少一个第二信号接收通路；第二信号接收通路的接收端连接接收天线或辅助设备，第二信号接收通路的输出端连接射频识别设备的接收端口或辅助设备(如图3A中所示的接收机309)。也就是说，本实施例中无线接收测试单元204的输入端连接接收天线308，无线接收测试单元204的输出端连接射频识别设备的接收端口。在实际应用中可在实现无线发射测试单元的电路中串接一功率放大器310，用以使发射天线发射的信号能够被放大，进一步能够较好的测试发射天线和/接收天线的灵敏度、抗干扰能力等参数。需要说明的是，在射频识别设备仅为待测的标签芯片时，可以使用已知的读写器连接在第一环形器的第一接口 n，将待测的标签芯片连接在第二环形器的第一接口 η。此时将前述的发射端口连接已知的射频信号源，发射天线使用50欧姆的负载替代；相对应地，接收天线也使用50欧姆的负载替代，前述的接收端口连接已知的频谱仪，如下图4所示。进一步地，结合图2和图;3Β所示，图;3Β所示的测试装置中还包括用以实现校准单元202的功能的电路，该校准单元202包括多个第九开关(如图:3Β中所示的Κ5、Κ6、Κ7、1(8、1(9、1(10、1(11、1(12、1(1；3)，该第九开关可具有多个接触端和一个连接所述可编程控制单元的控制端。图;3B中所示的每一第九开关均为具有两个接触端a、b的开关，控制端m连接所述可编程控制单元201。该处的多个第九开关可用于将无线发射测试单元203的输出端和无线接收测试单元204的输入端连接；或者，用于将无线发射测试单元203的输出端和有线接收测试单元206的输入端连接；或者，用于将有线发射测试单元205的输出端和无线接收测试单元204的输入端连接。举例来说，可编程控制单元201控制第九开关K5的a接触端、K6的b接触端、Kll的b接触端、K12的a接触端、K9的a接触端和KlO的b接触端依次连通，可实现将无线发射测试单元203的输出端和无线接收测试单元204的输入端连接；进而可以获知用以实现无线发射测试单元203的电路上的衰减量P1,以及可以获知用以实现无线接收测试单元204的电路上的衰减量P2。相应地，可编程控制单元201控制第九开关K5的a接触端、K6的b接触端、Kll的b接触端、K12的a接触端、K9的a接触端、KlO的a接触端和K8的b接触端依次连通，可实现将将无线发射测试单元203的输出端和有线接收测试单元206的输入端连接；进而可以获知用以实现有线接收测试单元206的电路的衰减量P4。进一步地，可编程控制单元201控制第九开关K2的b接触端、S61的d接触端、S41的b接触端、K8的a接触端、K7的a接触端、K13的b接触端、K12的b接触端、K9的a接触端、KlO的b接触端连通，可实现将有线发射测试单元205的输出端和无线接收测试单元204的输入端连接；进而可以获知用以实现有线发射测试单元205的电路的衰减量P3,例如，可根据如下的公式获取相关测试单元的电路的衰减量
无线发射测试单元203的电路的 I减量F>ι — P12/2 ；
无线接收测试单元204的电路的 I减量F>2 — Pi2/2 ；
有线发射测试单元205的电路的 I减量F)=P -P /9 . 3 r 32 r 12/ 乙，
有线接收测试单元206的电路的 I减量F\ — Pl4_^12/2 0
需要说明的是，在校准前述的各测试单元时，无线发射测试单元203的输入端连
接已知的射频信号源(即发射端口连接射频信号源)，无线接收测试单元204的输出端连接频谱仪(即接收端口连接频谱仪)。应了解的是，本实施例中可认为无线发射测试单元203与无线接收测试单元204的电路结构是相同的，故可认为P1 = P2= (1/2)P120当然，在测试单端口的读写器时，可以使用标准/已知的标签进行配合；在测试标签时，可以使用标准/已知的读写器进行配合。需要说明的是，图3A和图;3B中还示出有第一功分器、和第二功分器，其用于将两个线路的功率合成一线路的功率输出。在实际测试过程中，可根据需要设置外围器件的连接。由上述实施例的描述可知，本实施例中的测试装置通过多个开关组成的电路结构实现了各个测试单元的功能，且能够将需要的外围器件连接，进而可在可编程控制单元的控制下按照预设的测试指令自动完成各种射频识别设备的性能的测试，实现测试的自动化，大大减少人工干预，提高测试效率并保证测试的重复性。特别地，上述的测试装置能够完成各个测试单元的自校准，进而获取各个测试单元的衰减量，以便提高对射频识别设备的测试精度，且可以保证测试的可重复性。
在实际的应用场景中，前述的测试装置可以完成收发分开的双端口读写器相关的测试；进一步地，由于本实施例中的测试装置外接有发射天线307和接收天线308，进而可以较好的实现对双天线的射频识别设备的相关测试。特别地，可编程控制单元将开关K8转到开关KlO时，测试装置可以完成对单天线的射频识别设备的相关测试。接收天线308所连接的测试单元和发射天线307所连接的测试单元可以对标签进行测试，有线发射测试单元和有线接收测试单元可以对标签芯片进行测试。需要注意的是，本发明实施例中的各附图仅为说明本发明的实施例，其图中所示的开关的接触端仅为举例说明，本发明不限定各开关的接触端的数量。参照图4所示，图4示出了本发明另一实施例提供的射频识别设备的测试装置的结构示意图，以图4示出的电路结构用于测试标签芯片的灵敏度进行例举说明。具体地，待测的标签芯片连接在第二环形器的第一接口 n，已知的读写器连接在第一环形器的第一接口 η。此时，在无线发射测试单元的输入端连接已知的射频信号源，在发射天线处采用50欧姆的负载替代；在无线接收测试单元的输出端连接已知的频谱仪，在接收天线处采用50欧姆的负载替代。本实施例中设置频谱仪、射频信号源的目的是用于校准测试装置中的各测试单元，并获取各测试单元的电路结构对应的衰减量。发射天线、接收天线处设置50欧姆负载是用于防止外界的信号干扰。首先，可编程控制单元调整测试装置中各个开关的闭合或断开，对测试装置进行校准，以获取各个测试单元的电路结构对应的衰减量。例如，获取从射频信号源到待测标签芯片的所经过的通路上的衰减量为P1'；进一步地，设置第一数控衰减器、第二数控衰减器的衰减量为20dB，以防止大功率的读写器损坏标签。其次，连通实现有线发射测试单元的功能的电路结构，如图4中的电路流向为读写器、第一环形器、开关K2、开关S61、第一数控衰减器、开关S41、第二环形器、开关K8、开关K7、待测的标签芯片。此时，若读写器不能够检测到标签芯片，则减少第一数控衰减器的衰减量，直到可以检测到标签芯片的临界点为止；如果读写器能检测到标签芯片，则增加第一数控衰减器的衰减量直到可以检测到标签芯片的临界点为止。需要注意的是，为了保证测试的可重复性和精确度，可以采用通信成功率(比如50%的成功率)来标定此时的临界点。大于50%的通信成功率，则衰减量增加；小于50%的通信成功率，则衰减量减�。�以此来得到最终的临界衰减量Pmid。之后将读写器的发射功率Ptl减去第一数控衰减器的衰减量Pmid和P1'即为待测的标签芯片的灵敏度。在实际应用中，为了保证测试结果的准确性，在测试之前需要对读写器的发射功率Ptl进行标定。读写器的发射功率Ptl的标定也可以在测试装置中采用可编程控制单元控制测试装置得到，例如可将读写器发射信号通过多个开关形成的通路送入频谱仪得到读写器的发射功率仏。上述测试装置中对各开关和衰减器的校准、测试都是采用可编程控制单元来实现，从而达到自动测试的目的。由此，可以减小各种测试过程中的人工干预，降低电路切换过程中的接线差错几率，大大减小测试时间，并保证所有测试的可重复性。本领域普通技术人员可以理解实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成。前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中。该程序在执行时，执行包括上述各方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括R0M、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。 最后应说明的是以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制； 尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。
权利要求
1.一种射频识别设备的测试装置，其特征在于，包括可编程控制单元和分别连接所述可编程控制单元的无线发射测试单元，无线接收测试单元，有线发射测试单元、有线接收测试单元；所述无线发射测试单元，用于测试射频识别设备的无线发射参数；所述无线接收测试单元，用于测试所述射频识别设备的无线接收参数；所述有线发射测试单元，用于测试所述射频识别设备的有线发射工作参数；所述有线接收测试单元，用于测试所述射频识别设备的有线接收工作参数；其中，所述无线发射测试单元、无线接收测试单元、有线发射测试单元和有线接收测试单元中的一个或多个测试单元的一连接端连接待测的射频识别设备，其他连接端连接辅助设备；所述可编程控制单元根据用户输入的测试指令控制所述无线发射测试单元、无线接收测试单元、有线发射测试单元、有线接收测试单元分别对所述射频识别设备进行测试。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括连接所述可编程控制单元的校准单元，所述校准单元还分别连接所述无线发射测试单元、无线接收测试单元、有线发射测试单元、有线接收测试单元；所述校准单元，用于获取所述无线发射测试单元、无线接收测试单元，有线发射测试单元和有线接收测试单元的信号衰减量。
3.根据权利要求1或2所述的测试装置，其特征在于，还包括用于将发射信号和接收信号分离的第一环形器、第二环形器；所述第一环形器的第一接口连接能够发射信号和能够接收信号的设备，第二接口连接所述有线发射测试单元的输入端，第三接口连接所述有线接收测试单元的输出端；所述第二环形器的第一接口连接能够发射信号和能够接收信号的设备，第二接口连接所述有线发射测试单元的输出端，第三接口连接所述有线接收测试单元的输入端。
4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述有线发射测试单元包括第一开关(K2)、第二开关(S61)、第三开关(S41)、至少一个外围器件；其中，所述第一开关(K2)、第二开关(S61)、第三开关(S41)均具有多个接触端和一个连接所述可编程控制单元的控制端；所述可编程控制单元控制所述第一开关(K2)、第二开关(S61)、第三开关(S41)形成至少一个第一信号发射通路；至少一个外围器件串接在所述第一信号发射通路上；所述第一信号发射通路的接收端连接所述第一环形器的第二接口，所述第一信号发射通路的输出端连接所述第二环形器的第二接口。
5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，在所述第二开关(S61)的一接触端和所述第三开关(S41)的一接触端之间连接一用于改变所述第一信号发射通路上的信号衰减量的第一数控衰减器。
6.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述有线接收测试单元包括第四开关(K4)、第五开关(S62)、第六开关(S42)、至少一个外围器件；其中，所述第四开关(K4)、所述第五开关(S62)、所述第六开关(S4》均具有多个接触端和一个连接所述可编程控制单元的控制端；所述可编程控制单元控制所述第四开关(K4)、第五开关(S62)、第六开关(S4》形成至少一个第一信号接收通路；至少一个外围器件串接在所述第一信号接收通路上；所述第一信号接收通路的接收端连接所述第二环形器的第三接口 ；所述第一信号接收通路的输出端连接所述第一环形器的第三接口。
7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，在所述第五开关(S6》的一接触端和所述第六开关(S42)的一接触端之间连接一用于改变所述第一信号接收通路上的信号衰减量的第二数控衰减器。
8.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述无线发射测试单元包括第七开关(Kl)、所述第一开关(K2)和所述第二开关(S61)；所述第七开关(Kl)具有多个接触端和一个连接所述可编程控制单元的控制端；所述可编程控制单元控制所述第七开关(Kl)、第一开关(K2)、第二开关(S61)形成至少一个第二信号发射通路；所述第二信号发射通路的接收端连接所述射频识别设备的发射端口或辅助设备，所述第二信号发射通路的输出端连接发射天线或辅助设备。
9.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述无线接收测试单元包括第八开关(K3)、所述第四开关(K4)、第五开关(S62)；第八开关(O)具有多个接触端和一个连接所述可编程控制单元的控制端；所述可编程控制单元控制所述第八开关(K3)、第四开关(K4)、第五开关(S6》形成至少一个第二信号接收通路；所述第二信号接收通路的接收端连接接收天线或辅助设备，所述第二信号接收通路的输出端连接所述射频识别设备的接收端口或辅助设备。
10.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述校准单元包括多个第九开关(K5、K6、K7、K8、K9、K10、Kll、K12、K13)，所述第九开关具有多个接触端和一个连接所述可编程控制单元的控制端；所述多个第九开关用于将无线发射测试单元的输出端和无线接收测试单元的输入端连接；或者，用于将所述无线发射测试单元的输出端和所述有线接收测试单元的输入端连接；或者，用于将所述有线发射测试单元的输出端和所述无线接收测试单元的输入端连接。
全文摘要
本发明提供一种射频识别设备的测试装置，其特征在于，包括可编程控制单元和分别连接所述可编程控制单元的无线发射测试单元，无线接收测试单元，有线发射测试单元、有线接收测试单元；其中，所述无线发射测试单元，用于测试射频识别设备的无线发射参数；所述无线接收测试单元，用于测试所述射频识别设备的无线接收参数；所述有线发射测试单元，用于测试所述射频识别设备的有线发射工作参数；所述有线接收测试单元，用于测试所述射频识别设备的有线接收工作参数。上述测试装置能够在可编程控制单元的控制下按照预设的测试指令自动完成各种射频识别设备的性能的测试，实现测试的自动化，大大减少人工干预，提高测试效率并保证测试的重复性。
文档编号G01R31/00GK102565582SQ20111045419
公开日2012年7月11日 申请日期2011年12月29日 优先权日2011年12月29日
发明者丁立业, 刘帅奎, 姜祁峰, 尹波, 张力天, 李军, 熊廷文 申请人:上海坤锐电子科技有限公司, 上海集成电路技术与产业促进中心