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专利名称：全能型金属杂质检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种杂质检测装置，特别涉及一种对金属中氧化膜等夹渣的检测
机器。
背景技术：
金属在生产铸件过程的高温高压环境中会产生很多不纯物夹渣，尤其金属液面易 氧化形成氧化膜而巻入铸件中，氧化膜会对合金产生不良影响，例如金属液面氧化膜对金 属铸件品质的影响。所以在金属生产工艺中检测金属氧化膜等夹渣可以确认合金锭的品质 以达到提高合金锭的品质的目的。 目前产业界检测这些氧化膜等不纯物夹渣的办法是以电子显微镜观察金属中氧
化膜的晶相，藉此明确检测到这些夹渣，但是这个检测过程比较复杂时间长，操作人员的专
业水平要求较高，而且对电子显微镜设备操作技术、维护费用和检测成本较高。 在专利申请号为200810018787. 9的专利申请中公开了一种镁合金中氧化物及
夹渣的检测方法，本实用新型可以作为该方法中的检测装置使用。 由上述镁合金中氧化物及夹渣的检测方法，同理可应用于有色金属系列，例如镁 系列、铝系列、锌系列、铜系列、钛系列以及其它有色金属，亦可使用本实用新型进行金属中 氧化膜等夹渣的检测。

发明内容本实用新型为了克服上述缺点，提供了一种结构简单，可以快速检测且准确率高 的全能型金属杂质检测装置。 本实用新型的技术方案是一种全能型金属杂质检测装置，包括机台，机台上设有 金属磨抛机、金属抛光机以及多检测仓槽超声波检测系统，所述多检测仓槽超声波检测系 统至少包括2个检测仓。 所述金属磨抛机固定于机台侧面上，所述金属抛光机设于机台上表面，金属磨抛 机以及金属抛光机下方通过管道连接有吸尘器，金属磨抛机、金属抛光机以及吸尘器均由 开关面板控制。 所述多检测仓槽超声波检测系统的的检测仓里设有容器，其中机台上设有溶剂进 口阀和溶剂出口阀，其中溶剂出口阀和容器连通，容器配套有可揭开的容器盖，超声波震荡 机由开关面板控制。 使用本实用新型的对金属试片进行研磨抛光处理，之后再放入本实用新型的超声 波检测舱的容器内，然后施以超声波处理，本实用新型设有多个检测仓，可以在每个检测仓 里设定不同的超声波频率进行不同金属试片的处理，金属试片进行超声波处理时，夹杂物 会首先发生裂痕，进而裂痕延伸而连接在一起，最后自金属基质上剥离下来，因此在试片表 面生成雾状的破损痕迹。使用本实用新型装置通过上述操作步骤，可以快速，准确的诊断出 金属氧化膜的形态、分布、尺寸、位置及数量，进而确认其组成，本实用新型还具有成本低，可以在生产线上做炉前样品检测等优点。
图1为本实用新型实施例的结构示意图； 图2为图1的俯视图。 其中1、金属磨抛机，2、抛光机，3、1号超声波检测仓，4、容器，5、溶剂，6、容器盖， 7、2号超声波检测仓，8、溶剂进口阀，9、溶剂出口阀，10、控制开关，11、控制开关，12、吸尘 器，13、机台，14、试片，15、溶剂出口 。
具体实施方式为进一步了解本实用新型的内容及凸显其结构上的优点，现以具体实施方式
配合 附图详细阐述如下。 如图1、图2所示本设实施例中机台13上部设有金属磨抛机1，金属磨抛机1转盘 罩壳的底盘下方通过管道连接有吸尘器12，机台13侧边上的抛光机2转盘罩壳的底盘下方 通过管道连接有吸尘器12，用以吸取金属试片14磨抛过程中产生的金属或夹杂物碎屑，金 属磨抛机1及抛光机2和吸尘器均由控制开关10控制。 在机台13另一侧装有双检测仓槽超声波装置，其中超声波检测仓3内装行容器4， 超声波装置里还设有另一个超声波检测仓7 (构造与1号超声波检测仓相同)，金属试片14 在进行磨抛处理后，放入容器4内，通过溶剂进口阀8注入溶剂5，其中溶剂进口阀8可以转 动，由控制开关11开启超声波检测仓3或超声波检测仓7，超声波装置对金属试片进行超声 波震荡处理，溶剂可以是蒸馏水，处理结束后，溶剂经溶剂出口 15由溶剂出口阀9排除。 利用本实用新型进行杂质检测的具体方法为可适用于不同的金属试片，例如镁 基材、铝基材、锌基材、铜基材等等。 以下以镁基材、铝基材为例进行说明 将打磨抛光后的铝基材金属试片用夹具放入1号超声波检测仓容器3内，内装 300ml 3000ml蒸馏水或专用溶剂，以频率20 100kHz，震荡处理10 15分钟。浸泡震 荡处理后的试片，用夹具取出，抛光面喷洒酒精并以热风吹干。 将打磨抛光后的镁基材金属试片用夹具放入2号超声波检测仓容器7内，内装 300ml 2000ml蒸馏水或专用溶剂，以频率38 128kHz，震荡处理3 6分钟。浸泡震荡 处理后的试片，用夹具取出，抛光面喷洒酒精并以热风吹干。 镁基材、铝基材试片在震荡期间，会产生白色雾状区域以团状、片状或条状斑痕出 现在抛光面上，并且会随震荡时间增加而变多，金属试片生震荡期间因液体中空泡爆破产 生高强度的微喷流及冲击波作用在氧化膜上，于是造成金属基地上质脆的氧化膜发生冲蚀 破坏，最后自金属试片上剥离下来，形成空泡冲蚀的表面。剥离的面积愈大，试品表面被冲 蚀的痕迹愈大，表示金属试片的氧化夹杂愈多。 上述测试试片，以目视判断或用扫描式电子显微镜(SEM)观察雾状痕迹的位置， 配合电子微探仪(EPMA)进行氧化膜的图像(Mapping)分析以确认其组成。
权利要求一种全能型金属杂质检测装置，包括机台，其特征是机台上设有金属磨抛机，金属抛光机以及以及多检测仓槽超声波检测系统，所述多检测仓槽超声波检测系统至少包括2个检测仓。
2. 如权利要求1所述的全能型金属杂质检测装置，其特征是所述金属磨抛机固定于机 台侧面上，所述金属抛光机设于机台上表面，金属磨抛机以及金属抛光机下方通过管道连 接有吸尘器，金属磨抛机、金属抛光机以及吸尘器均由开关面板控制。
3. 如权利要求1或2所述的全能型金属杂质检测装置，其特征是所述多检测仓槽超声 波检测系统的的检测仓里设有容器，其中机台上设有溶剂进口阀和溶剂出口阀，其中溶剂 出口阀和容器连通，容器配套有可揭开的容器盖，超声波震荡机由开关面板控制。
专利摘要本实用新型涉及一种全能型金属杂质检测装置，机台上设有金属磨抛，抛光机系统以及多检测仓槽超声波检测系统，设有多个检测仓，可以在每个检测仓里设定不同的超声波频率进行不同金属试片的处理，金属试片在本装置上经过研磨和超声波震荡处理后在试片表面生成雾状的破损痕迹，通过破损痕迹可以快速、准确的诊断出金属氧化膜的形态、分布、尺寸、位置及数量，进以确认其组成，本实用新型还具有成本低，可以在生产线上在线检测等优点。
文档编号G01N1/32GK201449348SQ20092004431
公开日2010年5月5日 申请日期2009年6月8日 优先权日2009年6月8日
发明者张俊仁 申请人:常熟新发镁业有限公司