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Ld-to高低温性能简易测试装置的制作方法

时间:2025-07-02    作者: 管理员

专利名称:Ld-to高低温性能简易测试装置的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种LD-TO激光器全温测试的装置。
背景技术
长久以来LD-TO高低温性能的判定只能将TO制作成器件之后才能进行,故此 测试结果是由多种因素综合影响的结果,出现测试误差也难以辨别。同时此方法也延 误了时间,并造成部分成本浪费,此新型测试系统就是针对这些问题专门开发的,能 在TO阶段就完成测试。
发明内容
本实用新型的目的旨在提供一种测试时间短、成本低的LD-TO高低温性能简易 测试装置。
本实用新型目的的实现方式为,LD-TO高低温性能简易测试装置,电脑分接 KEITHLEY2400数字源表、KEITHLEY6485电流表的GP1B接口 , KEITHLEY2400 数字源表、KEITHLEY6485电流表的前面板电流测试顺出接口接测试控制板的测试 输入口,电脑与测试控制板通过RS232接口双向连接,测试控制板的输出接口 DB25接 烘箱中的测试夹的接口 DB25,测试夹具的多路信号线接测试控制板中的继电器,测试 控制板中的MAX3232芯片接单片机C8051,单片机C8051 Ul,通过其I/O经4-16 译码器CD4515 U2及电流驱动器ULN2803 U3分接每个继电器。
测试控制板的电气元件之间的连接为测试夹具中多路信号连测试控制板中的继 电器,而电脑通过RS232接口经过测试控制板中MAX3232芯片处理控制单片机C8051 进行运算,通过其I/O经4-16译码器CD4515及ULN28(B控制每个继电器使单路测 试信号按要求分给测试夹具中的每一个TO上。
本实用新型工作时,由电脑统一控制KEITHLEY2400数字源表、 KEITHLEY6485电流表、自制测试控制板,通过自制测试控制板将测试夹具中每路信 号分时间与数字源表和电流表相连,完成单路测试,后电脑计算汇总得到多路的测试 结果。
本实用新型通过对激光器背光电流的测量,得到LD-TO在不同温度下的各个性 能值。本实用新型采用单片机控制继电器完成一分多路的方式测量缩短了测试时间,解 决了传统测试方法只能将TO制成器件后才能测试的问题,节约了成本和时间。


图1是本实用新型结构示意图
图2是本实用新型自制测试控制板电原理示意图
图3为测试控制板接口示意图
具体实施方式
参照图1,本实用新型的电脑1分接KEITHLEY2400数字源表2 、 KEITHLEY6485电流表3的GPIB接口 , KEITHLEY2400数字源表 、 KEITHLEY6485电流表的前面板电流测试/输出接口接测试控制板4的测试输入口 8, 电脑的RS232接口 7与测试控制板双向连接,测试控制板的输出接口 DB25 9接烘 箱6中的测试夹具5的接口 DB25 10。
KEITHLEY2400数字源表是由由美国吉时利仪器公司设计生产的, KEITHLEY6485电流表是由美国吉时利仪器公司设计生产,测试夹具由武汉伟业电子 公司设计生产。
参照图2、 3,测试夹具中多路信号的接口 DB25 lO与测试控制板中的继电器ll 连接,电脑的RS232接口 12经测试控制板中的MAX3232芯片U4与单片机C8051IJ1 连接,单片机C8051 Ul进行运算,通过其I/O经4-16译码器CD4515U2及电流驱动 器ULN2803 U3控制每个继电器11,使单路测试信号按要求分到测试夹具中的每一个 TO上。测试控制板电源13接+5V电压的恒压源。
本实用新型工作时,烘箱中的测试夹具中的一路信号由测试控制板输送到数字源 表和电流表,数字源表按0.2111厶步进给激光器逐步加电,由电流表将激光器TO中背 光探测器的电流测出,由于背光电流正比于激光器光功率,我们便可以通过测试数据 绘制出背光电流与激光器所加电流的线性图形,然后通过电脑分析,得到LD-TO在不 同温度下的阈值、背光电流、电阻、正向电压的各个性能值,由此完成单路测试。再 将电脑控制测试控制板上的继电器更换一路,完成另一路的测试,依此对其他各路逐 一测试,最后由电脑计算汇总,得到多路的测试结果。
权利要求1、LD-TO高低温性能简易测试装置,其特征在于电脑分接KEITHLEY2400数字源表、KEITHLEY6485电流表的GPIB接口,KEITHLEY2400数字源表、KEITHLEY6485电流表的前面板电流测试/输出接口接测试控制板的测试输入口,电脑与测试控制板通过RS232接口双向连接,测试控制板的输出接口DB25接烘箱中的测试夹的接口DB25,测试夹具的多路信号线接测试控制板中的继电器,测试控制板中的MAX3232芯片接单片机C8051,单片机C8051U1,通过其I/O经4-16译码器CD4515U2及电流驱动器ULN2803U3分接每个继电器(11)。
专利摘要LD-TO高低温性能简易测试装置,涉及一种LD-TO激光器全温测试的装置。电脑分接KEITHLEY2400数字源表、KEITHLEY6485电流表的GPIB接口,KEITHLEY2400数字源表、KEITHLEY6485电流表的前面板电流测试/输出接口接测试控制板的测试输入口,电脑与测试控制板通过RS232接口双向连接,测试控制板的输出接口DB295接烘箱中的测试夹的接口DB25,测试夹具的多路信号线接测试控制板中的继电器,测试控制板中的MAX3232芯片接单片机C8051。本实用新型解决了只能将TO制成器件后才能测试的问题,采用单片机控制继电器多路方式测量,节约了成本和时间。
文档编号G01R31/26GK201402306SQ200920084638
公开日2010年2月10日 申请日期2009年3月31日 优先权日2009年3月31日
发明者惠 杨, 杨新民, 晶 黄 申请人:武汉华工正源光子技术有限公司

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