专利名称：一种soc芯片测试结果快速判断方法
技术领域：
本发明涉及一种SOC芯片测试结果快速判断方法。
背景技术：
SOC(System on Chip，系统级芯片)是在同一块芯片中集成了 CPU、各种存储器、 总线系统、专用�？橐约岸嘀諭/O接口的系统级超大规模集成电路。随着半导体工艺技术的发展，SOC在集成电路产品中所占的比重越来越大，产值也越来越高。由于SOC电路的集成度和复杂度较高，对SOC成品的分析测试难度和成本也比一般的集成电路芯片更高。如果在进行Wafer (晶圆)的异常再测试或芯片失效分析等后续分析工作时，能够方便地获得 SOC在CP (Circuitprobing)测试和FT (Final test)测试等各阶段的测试信息，无疑将有助于简化分析工作，提高分析的效率。在目前的半导体测试领域，记录芯片测试信息的方法通常有两种，一种是CP测试后，将各个die (芯片)的测试结果和状态按照其在Wafer上的位置坐标记录下来，形成一张Wafer映射图，即Mapping图，从Mapping图上可以读出次品芯片的分布趋势及其它分析数据，判断各个芯片的测试结果。但是Mapping图只能记录芯片的CP测试信息，不涉及FT 测试阶段，而且，一旦芯片从Wafer上被切割下来，失去了位置坐标，就很难再根据Mapping 图来判断芯片的CP测试结果了。另一种方法是晶圆厂商在芯片测试后，把测试信息写入芯片，以后需要了解这些测试信息时，可以通过读出芯片的信息来获取这些测试信息，但是， 一般说来，芯片封装后或者根据保密的需要，测试完毕后，测试接口会因部分pad (管脚)被封装或测试通道被切割而自动关闭，这样就无法再直接读出测试信息了，而只能通过修补 pad等方式来获�。唤雎榉常页杀竞芨�。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种SOC芯片测试结果快速判断方法，它可以方便、高效地读取芯片的测试信息，提高芯片分析测试的效率，降低分析测试的成本。为解决上述技术问题，本发明的SOC芯片测试结果快速判断方法，包括下列步骤芯片测试后，将芯片的测试信息存放到芯片自身的存储单元中；芯片封装后，当需要读出芯片的测试信息时，按照下列步骤进行(1)芯片上电；(2)在芯片的I/O端口输入特定的模式信号，使芯片进入测试信息码操作模式，并选定上述存放芯片测试信息的存储单元；(3)在芯片的CLK引脚上输入时钟信号；(4)在芯片的I/O端口输入特定的测试向量，使芯片进入读测试信息码操作模式， 读取上述存储单元中存放的测试信息；(5)芯片的I/O端口输出指定个数指定宽度的脉冲。所述脉冲的信息位个数为1至16的任何一个自然数。
所述脉冲的信息位宽度为20ns至1ms。与现有技术相比，本发明的SOC芯片测试结果快速判断方法，具有下列有益效果1、读取测试信息更方便、高效。通过在SOC芯片原始设计时增加一个DFT电路，将芯片的测试信息记录在芯片自身的存储单元中，当芯片封装成产品后，即便测试接口关闭了，只要按照芯片原始设计时的定义，在芯片的引脚上印加特别的测试向量，仍然能方便、 快速地读出存放在芯片内的测试信息。2、读取测试信息更安全。由于测试向量是在SOC芯片原始设计时由设计者自由定义的，一般人无从得知，因此，避免了芯片的测试信息被人任意读取。3、降低了测试成本。不需要复杂的测试设备，因此，测试成本较低。
下面结合附图与具体实施方式
对本发明作进一步详细的说明附图是本发明实施例的示意图。
具体实施例方式为对本发明的技术内容、特点与功效有更具体的了解，现结合图示的实施方式，详述如下DFT (Design for Testability，可测试性设计)，是指在集成电路的设计过程中， 通过增加逻辑、替换元件以及增加引脚等方法，解决芯片的快速、有效和自动测试问题。本发明的SOC芯片测试结果快速判断方法，就是通过在SOC芯片原始设计时，在芯片上增加DFT电路来实现的。其基本设计思想是对芯片进行测试后，利用芯片自身的存储单元存放芯片的测试结果及状态等测试信息，芯片封装后，需要读出芯片的测试信息时，在芯片的引脚上印加特定的测试向量，芯片的I/O端口输出与测试信息相对应的指定个数指定宽度的脉冲，借助电平的变化信息来判断相关的测试信息。下面以本发明的一个实施例为例来具体说明本发明的SOC芯片测试结果快速判断方法。首先，在SOC芯片原始设计时，在芯片的存储单元中划分出一小区域存储单元，定义为存储单元A，专门用来存放芯片的测试信息，该存储单元A与芯片的其他存储单元互不干扰。对存储单元A的读写操作，通过CLK和I/O信号的组合来完成。当芯片的某一部分功能在CP或FT等测试阶段被测试后，通过下列步骤将芯片的测试结果和状态等信息写入存储单元A 在CLK为低电平时，在芯片的I/O端口输入5A的模式信号，使芯片进入测试信息码操作模式，并选定存储单元A，该模式信号由芯片的设计者在芯片原始设计时自由定义；之后，在CLK引脚上输入时钟信号；接着在I/O端口输入测试向量“00”，该测试向量同样由设计者在芯片原始设计时自由定义，使芯片进入写测试信息码操作模式，然后就可以通过测试设备将芯片的测试结果及状态等信息记录到存储单元A中。我们可以根据需要自由设定记录芯片的测试信息所需的信息位个数，并自由定义各种逻辑组合形式所代表的含义，在本实施例中，以Datal和Data2的逻辑组合来代表SOC芯片的四种测试状态和结果， 如表1所示
表权利要求
1.一种SOC芯片测试结果快速判断方法，其特征在于，包括下列步骤 芯片测试后，将芯片的测试信息存放到芯片自身的存储单元中； 芯片封装后，当需要读出芯片的测试信息时，按照下列步骤进行(1)芯片上电；(2)在芯片的I/O端口输入特定的模式信号，使芯片进入测试信息码操作模式，并选定上述存放芯片测试信息的存储单元；(3)在芯片的CLK引脚上输入时钟信号；(4)在芯片的I/O端口输入特定的测试向量，使芯片进入读测试信息码操作模式，读取上述存储单元中存放的测试信息；(5)芯片的I/O端口输出指定个数指定宽度的脉冲。
2.如权利要求1所述的SOC芯片测试结果快速判断方法，其特征在于所述脉冲的信息位个数为1至16的任何一个自然数。
3.如权利要求1所述的SOC芯片测试结果快速判断方法，其特征在于所述脉冲的信息位宽度为20ns至1ms。
全文摘要
本发明公开了一种SOC芯片测试结果快速判断方法，通过在芯片原始设计时增加DFT电路来实现，该方法利用芯片自身的存储单元存放芯片的测试信息，当芯片封装后，需要读取测试信息时，按照下列步骤进行(1)芯片上电；(2)输入模式信号，进入测试信息码操作模式，并选定存放测试信息的存储单元；(3)输入时钟信号；(4)输入测试向量，读取测试信息；(5)输出脉冲。该方法方便、快速，不仅能提高芯片分析测试的效率，还能降低分析测试的成本。使用该方法读取芯片的测试信息时，只要在被测芯片的引脚上印加相应的测试向量，芯片的I/O端口就会输出与测试信息对应的脉冲信号，借助电平的变化信息即可方便地判断出相关测试信息。
文档编号G01R31/28GK102262207SQ20101018653
公开日2011年11月30日 申请日期2010年5月27日 优先权日2010年5月27日
发明者谢晋春 申请人:上海华虹Nec电子有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
