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专利名称：环境测试装置的制作方法
技术领域：
本发明属于一种环境测试装置，用于对设置在基板上的其一组件做相异环境温度下的性能测试。
热机，顾名思义就是对电子组件加上工作电压并经过一段时间，来测试其在长时间工作下的稳定性，同时，可提供一温度控制单元，使得测试环境更符合实际的操作情况。以一基板为例，现有的方式都是将基板放置在一个环境仿真箱中，以对赋予工作电压的基板进行此箱中的温度下的性能测试，但是这样的测试方式却仅能对一整个基板作测试，而无法对设置于基板的单一组件作性能测试，所以无从知道在基板赋予一工作电压且位于某一测试环境下时，此单一组件的性能如何。
基于上述原因，发展一种环境测试装置以在基板赋予一工作电压且位于某一测试环境时，对设置于基板的单一组件作性能测试实为必要。
为了实现上述目的，本发明提供了一种环境测试装置，系应用于设置在基板的待测物，此装置包括有罩体、送风机构、风管及控温器，其中罩体具有恰容置此待测物的一空间，送风机构用以提供气流，而风管一端连接于罩体，另一端连接于送风机构，至于控温器则设置于风管，以控制风管中的风温，以使位于罩体中的待测物做此风温下的性能测试。
当使用时，将罩体盖于基板，并使此待测物恰好容置于罩体的空间中，再由送风机构提供气流给风管，同时，控温器亦控制风管中的风温，并使经温控的风通过风管而吹入罩体的空间，当然，因为待测物的状态可以为正处于运作状态抑或是不处于运作状态皆可，所以本发明可以快速且便利地仅针对此待测物做相异环境温度下的性能测试，甚至是此待测物处于运作状态时的性能测试。
下面结合附图
和实施例说明本发明的目的、构造特征及其功能。
本发明包括有罩体20、送风机构30、风管40、控温器50及温度传感器60，应用于设置有许多芯片(Chip)的基板10，而这些芯片可以被选择而成为一单一待测物11，以针对此单一待测物做相异环境温度下的性能测试，甚至是此单一待测物11处于运作状态时的性能测试。
罩体20具有恰容置此单一待测物11的一空间。
送风机构30用以提供气流。
风管40一端连接于罩体20，另一端连接于送风机构30，并包括有对应于待测物11的风口41，此风口41供风流经以吹入罩体20的空间中，以由其风温控制此空间中的温度，当然，风口41更包括设于其端缘的多个第一出风口411以及设于其侧缘的第二出风口412，以使风均匀地吹入罩体20之空间中，且此第一出风口411及第二出风口412的尺寸大小系由流经其之风的风压所决定(如图2所示)，而经第一出风口411及第二出风口412流动的风可依风的温度及风度调整风自身的温度曲线，且风可以为热风抑或是冷风，以针对相异环境温度下的待测物11作测试(如于热带国家中使用之待测物11，可以用热风吹入罩体20中的空间，以使待测物11处于热环境中，而于寒带国家中所使用之待测物11，则可以用冷风吹罩体20中的空间，以使待测物11处于冷环境中)。
控温器50则设置于风管40，以控制风管40中的风温。
温度感知器60设置于罩体20的空间中的风口41与待测物11之间，用以测量罩体20的空间中的温度，当然，温度感知器60更可包括一屏蔽61，以包覆于其外表面，且屏蔽61的材质等同于待测物11表面的材质，也就是随着相异待测物11的表面材质的不同，屏蔽61的材质亦随的变更，以使温度传感器60精确地测量出待测物11位于罩体20的空间中的温度。
如图3所示，当使用时，先将罩体20罩于基板10，并使单一待测物11恰好容置于罩体20的空间中，再由送风机构30提供气流给风管40，同时，控温器50亦控制风管40中的风温，并使受到温控的风通过风管40的风口41吹入罩体20之空间，且风亦经由分别设于风口41的端缘及侧缘的第一出风口411及第二出风口412均匀地吹入此空间中，而使得此空间中各处的温度得以均匀，至于温度感知器60也通过其屏蔽61测量出此空间中的温度，因此可以快速且便利地仅针对此单一待测物11做相异环境温度下的性能测试，甚至是此单一待测物11处于运作状态时的性能测试。
如图4所示，本发明亦可用以测试数个待测物11的性质，而此时待测物11、风管40与温度传感器60的个数也就必须为多个，风管40的一端连接于同一罩体20，而另一端则连接于送风机构30，且各个待测物11都对应有一个风管40，至于温度传感器60则同样地设于待测物11与风管40之间，因此一次就可以针对各个待测物11做相异环境温度下的性能测试，甚至是待测物11处于运作状态时的性能测试。
而此多个待测物11可以为相同的待测物，抑或是相异的(图中所示为相同者)，因此可使得测试多个待测物11的性质时能够更快速且便利，不过，各个温度传感器60的屏蔽61的材质也就必须随着所对应待测物11表面材质而定，以使各个温度传感器60精确地测量出其所对应待测物11位于罩体20的空间中的温度。
根据本发明所揭露的环境测试装置系具有下列功效1.本发明可以快速且便利地仅针对基板的其一待测物做相异环境温度下的性能测试，甚至是此单一待测物处于运作状态时的性能测试。
2.本发明可使风经由第一出风口及第二出风口吹出，所以可使罩体中空间各处的温度达到均匀，以形成平时待测物所处的环境，而得到最佳之测试环境。
3.本发明可借助风温及风度调整其自身的温度曲线。
以上所述者，仅为本发明其中的较佳实施例而已，并非用来限定本发明的实施范围；即凡依本发明申请专利范围所作的均等变化与修饰，皆为本发明权利要求所要求保护的范围。
权利要求
1.一种环境测试装置，应用于设置有一待测物的一基板，其特征在于包括有一罩体，具有容置该待测物的一空间；一送风机构，提供气流；一风管，一端连接于该罩体，且另一端连接于该送风机构；及一控温器，设置于该风管，以控制该风管中的风温。
2.如权利要求1所述环境测试装置，其特征在于更包括有设于该空间的一温度感知器，以测量该空间中的温度。
3.如权利要求2所述环境测试装置，其特征在于该风管的风口对应该待测物，且该温度感知器设于该风口与该待测物间。
4.如权利要求2所述环境测试装置，其特征在于该温度感知器具有包覆于其外表面的一屏蔽，且该屏蔽的材质同于该待测物表面的材质，以使该温度感知器精确地测量出该待测物位于该空间中的温度。
5.如权利要求1所述环境测试装置，其特征在于该风管的风口端缘具有多个第一出风口，以均匀地将风吹入该空间。
6.如权利要求1所述环境测试装置，其特征在于该风管的风口侧缘具有多个第二出风口，以均匀地将风吹入该空间。
全文摘要
本发明公开了一种环境测试装置，应用于设置有一待测物的一基板，其包括一罩体，具有容置该待测物的空间；送风机构，提供气流；风管，一端连接于该罩体，且另一端连接于该送风机构；及一控温器，设置于该风管，以控制该风管中的风温。根据本发明所揭露的环境测试装置，系应用于设在基板之待测物，通过提供经温控的风给此待测物，使位于密闭空间之待测物做在此风温下的性能测试，因此，本发明可以快速且便利地对此待测物做相异环境温度下的性能测试，不论是在待测物正处于运作状态或是不处于运作状态。
文档编号G01M99/00GK1458507SQ02117660
公开日2003年11月26日 申请日期2002年5月13日 优先权日2002年5月13日
发明者李志坚 申请人:英业达股份有限公司