专利名称:一种用于合套仪轴承外圈尺寸测量的工件的制作方法
技术领域:
本实用新型涉及一种工件,尤其是一种用于合套仪轴承外圈尺寸测量的工件。
背景技术:
滚珠轴承在合套前,需要测量轴承内圈的外径及外圈的内径,从而根据这个数据来计算配套的滚珠的尺寸范围,并选择合适的滚珠,从而完成合套的工序。目前市场上有一类合套仪,此类合套仪的调整距离是固定的,因而测量范围也是固定的,而测量范围与工件的结构也存在较大的关系,图1是现有技术的合套仪轴承外圈内径测量原理图,如图1所示,一个测量点和两个支撑点构成了三点定位,测量点和支撑点之间可调整的垂直距离即为可测量的轴承外圈内径的尺寸范围。现有技术的工件的支承架设计通常是支承点在固定点下面,因而导致测量范围较窄。
实用新型内容本实用新型针对上述问题,为了解决由于工件的结构导致合套仪测量范围变窄的问题,目的在于提供一种用于合套仪轴承外圈尺寸测量的工件,能够扩大合套仪轴承外圈内径的尺寸测量范围。为达到上述目的,本实用新型的技术方案是一种用于合套仪轴承外圈尺寸测量的工件,包括测量架底座、支承架底座,测量架底座设置有测量球、第一螺丝孔、第二螺丝孔、第一螺帽孔、第二螺帽孔,其中第一螺帽孔位于第一螺丝孔的外侧,第二螺帽孔位于第二螺丝孔的外侧;支承架底座设置有第一支承球、第二支承球、第三螺丝孔、第三螺帽孔,其中第一支承球、第二支承球的位置位于第三螺丝孔及第三螺帽孔的上方。本实用新型的有益效果是由于上述工件的支承架底座上设置的支承球位于固定点的上方,因而加大了测量球与支承球之间的垂直距离,于是进一步的扩大了合套仪轴承外圈内径的尺寸测量范围。
图1为现有技术的现有技术的合套仪外圈内径测量原理图;图2为本实用新型的合套仪轴承外圈内径测量原理图;图3为本实用新型的支承架底座主视图;图4为本实用新型的支承架底座左视图;图5为本实用新型的测量架底座主视图;图6为本实用新型的测量架底座左视图。
具体实施方式
以下结合附图,并结合实施例,对本实用新型做进一步的说明。如图3、图4、图5、图6所示,本实用新型一种用于合套仪轴承外圈尺寸测量的工件,包括测量架底座1、支承架底座11,测量架底座I设置有测量球6、第一螺丝孔2、第二螺丝孔4、第一螺帽孔3、第二螺帽孔5,其中第一螺帽孔3位于第一螺丝孔2的外侧,第二螺帽孔5位于第二螺丝孔4的外侧;支承架底座11设置有第一支承球7、第二支承球8、第三螺丝孔10、第三螺帽孔9,其中第一支承球7、第二支承球8的位置位于第三螺丝孔10及第三螺帽孔9的上方。本实用新型的工作原理为如图2所示,用带螺帽的螺丝将支承架底座11安装到合套仪上,其中第三螺丝孔9所在的位置即为固定点,第一支承球7、第二支承球8所在的位置即为支承点,所述的第一支承球7、第二支承球8在同一水平方向,固定点的位置高于支承点的位置;用带螺帽的螺丝将测量架底座I安装到合套仪上,第一螺丝孔2、第二螺丝孔4所在的位置即为固定点,测量球6所在的位置即为测量点,测量点位于固定点的下方。在合套仪上,支承架底座11位于测量架底座I的上方。将轴承外圈挂在支承架底座11的第一支承球7、第二支承球8上,移动测量架底座1,当测量球6接触到轴承外圈时,即可从合套仪上读数。
权利要求1.一种用于合套仪轴承外圈尺寸测量的工件,包括测量架底座(I)、支承架底座(11),其特征在于测量架底座(I)设置有测量球(6)、第一螺丝孔(2)、第二螺丝孔(4)、第一螺帽孔(3)、第二螺帽孔(5),其中第一螺帽孔(3)位于第一螺丝孔(2)的外侧,第二螺帽孔(5)位于第二螺丝孔(4)的外侧;支承架底座(11)设置有第一支承球(7)、第二支承球(8)、第三螺丝孔(10)、第三螺帽孔(9),其中第一支承球(7)、第二支承球(8)的位置位于第三螺丝孔(10)及第三螺帽孔(9)的上方。
专利摘要本实用新型公开了一种用于合套仪轴承外圈尺寸测量的工件,包括测量架底座、支承架底座,测量架底座设置有测量球、第一螺丝孔、第二螺丝孔、第一螺帽孔、第二螺帽孔,其中第一螺帽孔位于第一螺丝孔的外侧,第二螺帽孔位于第二螺丝孔的外侧;支承架底座设置有第一支承球、第二支承球、第三螺丝孔、第三螺帽孔,其中第一支承球、第二支承球的位置位于第三螺丝孔及第三螺帽孔的上方。由于上述工件的支承架底座上设置的支承球位于固定点的上方,因而加大了测量球与支承球之间的垂直距离,于是进一步的扩大了合套仪轴承外圈内径的尺寸测量范围。
文档编号G01B21/14GK202836544SQ201220390849
公开日2013年3月27日 申请日期2012年8月7日 优先权日2012年8月7日
发明者王慧霞, 吕晓春, 杨辉, 陈超, 赵达江 申请人:浙江胜坚轴承机械有限公司