专利名称：耐压测试器的连接检测装置及其连接测试方法
技术领域：
本发明涉及耐压测试技术领域，具体涉及一种耐压测试器的连接检测装置及其连接检测方法。
背景技术：
为了确保产品的实用安全，尤其是电器类产品，其在制造下线前都会进行安全测试，如漏电流测试，耐压测试。近些年，因相关法规规定的测试量逐年增加，测试程序要求更加严谨，以期待能确实检验出不良品或是临界不良品的待测产品。目前，多数电器生产厂家采用传统测试方式或传统测试电路结构，但是，这种传统的测试方式或测试电路结构很难在测试前对测试设备与待测产品之间是否接触可靠进行检测，或是在待测产品测试前虽能检测接触是否可靠，但是并无法监测其整个测试过程接触是否可靠，这些都会造成产品测试质量的可靠性大受质疑，从而无法确保产品质量。如图I所示，为漏电流下限检验法的电路原理图。利用此方式作为待测产品与高压测试端接触是否可靠的检验，存在一种问题，因为此种方式是根据产品本身的漏电流值做为判断依据，但是不同待测产品所具有的漏电流值不同，并非每个产品都是一样，因此在判断上容易造成误判现象，这种检验方式可靠性不高。如图2所示，为开路电容检验法的电路原理图。利用此方法作为待测产品与高压输出端接触是否可靠的检验，同样存在一种问题，此方式是将待测产品本身等效为一个电容来进行测量的，当测试导线与待测产品接触与断开的两种情况下，在整个待测产品的两端所形成的电容量是有变化的，从而可以根据前后电容变化量来判断测试电路与待测产品之间接触是否可靠的依据。但这方式在实际生产检验环境下存在许多变数，其待测产品本身电容量与当测试导线开路时电容量并非每次相同，且当有加装测试治具或是导线有变化时，其电容量也会变化，因此也容易造成误判现象。因此这种检验方式可靠性也不高。另外因每次测试前须先做判断，因此测试时间被延长，造成测试效率降低，不符合经济效益。如图3所示，为阻值接触检验法的电路原理图。利用此方法作为待测产品与高压输出端接触是否可靠的检验，原则上比上述方式或方法要可靠，但是仍存在一种问题，因此种方式是在设备使用前或每次产品测试前，加装一阻抗值检验电路做为是否接触良好的判断依据。此方法确实是可以确实检验出是否接触良好，但这方式在实际生产检验环境下会出现判断的不可靠现象，因只在设备使用前做检验，但无法确保往后的使用时间内没有接触不良或断线现象，或是每次产品测试前做检验，但无法在产品整的检验过程中监测产品是否接触可靠，因此也易造成误判现象，因此这种检验方式可靠性也不高。另外因每次测试前须先做判断，因此同样存在测试时间被延长，测试效率低的缺点，不符合经济效益。由此可见，为了保证测试产品的质量可靠性，急需一种测试可靠性良好、测试效率高的耐压测试技术
发明内容
本发明提供一种耐压测试器的连接检测装置，能够解决耐压测器可靠性不高及测试效率低的问题。本发明提供一种耐压测试器的连接检测装置，包括
阻抗检测�？椋糜诩觳獠馐云鞯牧蛹觳庾爸糜氪獠分涞缌硬⒉贫�
号;
可编程逻辑闸，用于将阻抗检测�？榈耐贫藕庞肷瓒ㄐ藕沤斜冉虾蟛优卸ㄐ藕挪⑹涑龈⒋砥鳎�
微处理器，用于接收可编程逻辑闸的连接判定信号并根据连接判定信号控制高压输出�？榈钠舳蚬乇眨�
高压输出�？椋糜诟菸⒋砥鞯拿畈哐共馐孕藕�。优选地，所述阻抗检测模块包括至少一个低阻抗导通检测装置和至少一个高阻抗导通检测装置，隔离感应装置及隔离电源装置，其中，隔离电源装置为低阻抗导通检测装置、高阻抗导通检测装置及隔离感应装置提供工作电源，低阻抗导通检测装置和高阻抗导通检测装置连接到隔离感应装置，隔离感应装置输出至所述可编程逻辑闸。优选地，所述隔离感应装置包括多个隔离感应电路，每个低阻抗导通检测装置或高阻抗导通检测装置均连接有一个隔离感应电路；所述隔离电源装置包括多个隔离电源， 每个低阻抗导通检测装置或高阻抗导通检测装置均连接一个隔离电源。优选地，高压输出�？榘ㄖ骺刂破骱透哐共爸茫骺刂破魍ü齀/O控制器连接至所述的微处理器，高压产生装置连接于主控制器。优选地，所述微处理器上连接有报警指示装置。优选地，所述微处理器还连接有用于接收远端测试控制信号的�？乜刂颇？�。优选地，所述高压输出�？榛拱ǘ喔龈哐共馐酝ǖ溃龈哐共馐酝ǖ婪直鹆痈哐共爸玫母哐苟撕偷脱苟耍哐共馐酝ǖ滥诰哂杏糜谘≡窀哐苟耸涑龌虻脱苟耸涑龅难⊥ǹ�。上述技术方案可以看出，由于本发明实施例采用阻抗检测�？槎圆馐曰芈方惺凳奔觳猓⒓笆苯觳獾降牧优卸ㄐ藕欧⑺透⒋砥鳎⒋砥骷笆笨刂聘哐故涑瞿？榭艋蚬乇帐涑觯虼吮痉⒚魇凳├峁┑哪脱共馐云鞯牧蛹觳庾爸糜胂钟心脱共馐苑椒ɑ蚰脱共馐越峁瓜啾龋芄皇迪植馐匀�(包括测试前，测试中)对待测产品与测试器的连接检测装置之间的接触是否可靠进行监测，提高了测试结果的可靠性，保证了待测产品的测试质量；而且能够实现智能测试，对于测试过程中出现的接触不良或短线的情况及时关闭高压输出，保证了待测产品的安全；测试前无需对测试设备或待测产品的参数做判断，直接接入即可测试，提升了测试效率。利用上述耐压测试器的连接检测装置，本发明还提供了一种连接检测方法，包括步骤判断待测产品是否与耐压测试器的连接检测装置连接可靠，如果是，则耐压测试器的连接检测装置输出测试电压至待测产品，如果否，则耐压测试器的连接检测装置启动报警提示并停止输出测试电压。本发明实施例中的耐压测试方法能够充分保证待测产品完全处于连接良好(接触可靠)的状态下进行，能够保证最终的测试结果的准确性。
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图I是现有技术中漏电流下限检验法的电路原理图2是现有技术中开路电容检验法的电路原理图3是现有技术中阻值接触检验法的电路原理图4是本发明实施例I中单信道耐压测试器的连接检测装置的结构原理图5是本发明实施例I中低阻抗导通检测装置与隔离感应电路的电路原理图6是本发明实施例I中高阻抗导通检测装置与隔离感应电路的电路原理图7 Ca)是本发明实施例2中多信道耐压测试器的连接检测装置的结构原理图7 (b)是本发明实施例2中高阻抗导通检测模组的结构原理图7 (c)是本发明实施例2中低阻抗导通检测模组的结构原理图8是本发明实施例3中耐压测试方法的流程图。
具体实施例方式下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。实施例I :
本发明实施例提供一种耐压测试器的连接检测装置，如图4所示，包括阻抗检测�？�
I、可编程逻辑闸2、微处理器3及高压输出�？�4。其中，高压输出�？�4、可编程逻辑闸2 均连接于微处理器3，而阻抗检测�？镮的输入端连接于高压输出�？�4和待测产品的连接点，阻抗检测�？镮的输出端连接至可编程逻辑闸2。阻抗检测�？镮用于检测测试器的连接检测装置与待测产品之间电连接并产生推动信号，即检测测试器的连接检测装置与待测产品之间的电气性接触是否可靠。可以理解的是，阻抗检测模块I在测试器的连接检测装置与待测产品接触可靠或不可靠均会产生一个推动信号，但是在接触可靠的情况下所产生的推动信号与接触不可靠的情况所产生的推动信号有所不同，该推动信号属于电压信号，因此通过推动信号的电压幅值来判断接触是否可靠。本发明实施例中阻抗检测模块I包括一个低阻抗导通检测装置11和高阻抗导通检测装置12，隔离感应装置13及隔离电源装置14，其中，隔离电源装置14为低阻抗导通检测装置11、高阻抗导通检测装置12及隔离感应装置13提供工作电源，低阻抗导通检测装置11和高阻抗导通检测装置12连接到隔离感应装置13，隔离感应装置13输出至所述可编程逻辑闸2。由于本发明施例中的耐压检测器只包括了一个低阻抗导通检测装置和一个高阻抗导通检测装置，因此本发明实施例中的耐压检测器定义为单信道耐压检测器，每个低阻抗导通检测装置或高阻抗导通检测装置分别对应一个通道。为了保证本测试器的连接检测装置在完全悬浮的工作状态下进行测试，低阻抗导通检测装置11、高阻抗导通检测装置 12、隔离感应装置13及隔离电源装置14均采用浮地。为了保证每个通道均处于独立的状态，所述隔离感应装置13包括多个隔离感应电路，每个低阻抗导通检测装置或高阻抗导通检测装置均连接有一个隔离感应电路；所述隔离电源装置14包括多个隔离电源，每个低阻抗导通检测装置或高阻抗导通检测装置均连接一个隔离电源。图5示出了本发明实施例中每个低阻抗导通检测装置与单个隔离电源及单个隔离感应电路的连接方式，图5中，隔离感应电路131与低阻抗导通检测装置11中的检测电路连接，本发明实施例中，低阻抗导通检测装置11中的检测电路采用电流检测原理，其中H 端和L端为待测端，即待测产品18与耐压测试器的连接检测装置相连接的两端，如果待测端连接良好(接触可靠)，待测产品18的内部相当于一个较小阻值的电阻，则电流由H端流向L端，进而在电阻R18上产生电压，此时与低阻抗导通检测装置11连接的隔离感应电路 131中的光耦器件Ul在其管脚I和管脚4之间的电压会发生变化，从而改变其管脚3处的电压，实现了对待测端电流的变化转换为电压变化的过程，因此，可以理解的是，光耦器件 Ul的管脚3通过Rll所输出的电压信号即为推动信号，图5中SI端连接到可编程逻辑闸
2。VCK端连接到隔离电源。图6示出了本发明实施例中每个高阻抗导通检测装置与单个隔离电源及单个隔离感应电路的连接方式。图6中，隔离感应电路132与上述图5中隔离感应电路131采用同样的电路结构，其输出端S2同样连接到可编程逻辑闸2，此处不再赘述，而高阻抗导通检测装置12的检测电路采用电压检测原理，其中M端和N端为待测端，如果待测产品18与耐压测试器的连接检测装置之间连接良好(接触可靠)，则M端和N端接入的待测产品18相当于一个阻抗很高的电阻，但并未开路，电路中VDK端连接到隔离电源，因此电流可以由M端流至N端，并在电阻28上产生分压，从而使三极管Ql和三极管Q3组成的复合管导通，进而隔离感应电路132中的光耦元件U2的管脚I和管脚4之间电压发生变化，最终在光耦元件U2 的管脚3上产生推动信号并由R21将推动信号输出至S端。如果连接不良(接触不可靠)， 则M端和N端的电阻增大或者开路，复合管截止，光耦元件U2的管脚I上电压降低或者降至接近0，因此光耦元件U2的管脚3上的电压会提升，因此推动信号发生变化从而表示M端和N端的连接状态。可编程逻辑闸2用于将阻抗检测�？镮的推动信号与设定信号进行比较后产生连接判定信号并输出给微处理器3。本发明实施例中可编程逻辑闸2可以使用PLC控制器进行控制，可以理解的是，所谓设定信号是在根据待测产品的漏电流参数、耐压参数在测试之前就设定好的一个参考信号，因此，该设定信号通俗的理解为一个参考电压，该设定信号的值存储于微处理器3内。微处理器3将设定信号输出给可编程逻辑闸2，在可编程逻辑闸 2内具有比较单元，推动信号与设定信号经过比较单元后得到连接判定信号，该连接判定信号即为识别测试器的连接检测装置与待测产品接触是否可靠的监测信号。微处理器3是本发明实施例中耐压测试器的连接检测装置的控制核心，用于接收可编程逻辑闸2的连接判定信号并根据连接判定信号控制高压输出�？�4的启动或关闭。微处理器3上连接有报警指示装置31，该报警指示装置可以是电子指示灯或电子显示屏，也可以是蜂鸣器或者指示灯与蜂鸣器的结合。例如报警指示装置选用指示灯与蜂鸣器结合时，当微处理器3根据连接判定信号识别出测试器的连接检测装置与待测产品接触不良时，微处理器3控制指示灯闪烁，同时控制蜂鸣器发出警报，从而非常直观的提示操作人员。由于测试器的连接检测装置具有高压输出�？椴⑶掖獠芬不嵩诟哐够肪诚陆胁馐裕虼耍吮Ｖげ僮魅嗽钡陌踩痉⒚魇凳├谖⒋砥�3上连接有遥控控制�？� 32，�？乜刂颇？橛胍？仄飨嗥ヅ洌糜诮邮赵抖瞬馐钥刂菩藕牛纾贝獠酚氩馐云鞯牧蛹觳庾爸媒哟タ煽渴保ň甘咀爸没嶂惫鄣奶崾静僮魅嗽保僮魅嗽北憧梢栽谠抖死檬种械囊？仄鞣⒊霾馐钥刂菩藕牛梢？乜刂颇？�34接收并发送至微处理器3， 微处理器3便会发出测试启动信号至高压输出模块4。本发明实施例采用人工控制测试器的连接检测装置启动高压输出�？槎⒉徊捎糜晌⒋砥�3自动控制测试器的连接检测装置启动高压输出模块4，其主要目的是为了安全考虑，如果阻抗检测�？镮在检测到测试器的连接检测装置与待测产品之间接触可靠后，由微处理器3去直接控制高压输出�？榈钠舳且坏┯腥宋蟠橙氲讲馐云鞯牧蛹觳庾爸酶浇蚣菀追⑸僮魇鹿剩捎萌斯た刂频姆绞皆蚩梢栽谌繁２馐云鞯牧蛹觳庾爸弥芪奕耸痹倨舳哐故涑瞿？椤８哐故涑瞿？�4包括主控制器41和高压产生装置42，主控制器41通过I/O控制器5连接至所述的微处理器3，高压产生装置42连接于主控制器41。下面结合图4对本发明实施例中的耐压测试器的连接检测装置的工作原理作出说明。待测产品18与耐压测试器的连接检测装置的高压产生装置42相连，高压产生装置42具有高压HV端和低压LV端，高压HV端与待测产品18的PRI中的一点连接，PRI是待测产品18的初级线圈的两端，低压LV端与待测产品的COL中的一点相连，COL是待测产品 18中的线圈铁芯的两端。可以理解的是测试过程中，耐压测试器的连接检测装置的高压HV 端可以连接在待测产品18的PRI中的一点，也可以连接在SEC中的一点，SEC是待测产品 18的次级线圈的两端，本发明实施例中耐压测试器的连接检测装置与待测产品初级线圈两端的连接方式如下首先需要将耐压测试器的连接检测装置中的高压产生装置42的高压 HV端与低阻抗导通检测装置11中的检测电路的H端连接，然后将高压HV端接到待测产品 18的初级线圈两端PRI的一端上，而PRI的另一端则连接低阻抗导通检测装置11的检测电路的L端。其次需要将耐压测试器的连接检测装置中的高压产生装置42的低压LV端与高阻抗导通检测装置12的检测电路的M端连接，然后将低压LV端连接到待测产品18的线圈铁芯COL的一端上，而COL的另一端则连接高阻抗导通检测装置12的检测电路的N端。对于检测原理已经在对检测电路的介绍中进行了详细介绍，此处不再赘述。可以理解的是，如果耐压测试器的连接检测装置与待测产片的次级线圈连接，则可以参照上述方式连接。可以理解的是，对于其他不具有变压器线圈的待测产品，其检测原理是一样的，如产品电源输入端相当于上述的初级线圈，产品外壳则相当于上述的线圈铁芯，因此对于不具有变压器线圈的待测产品与本发明实施例的耐压测试器的连接检测装置的接线方式是本领域技术人员可以获知的。在上述阻抗检测�？镮的介绍中，我们可以知道，阻抗检测�？镮中的低阻抗导通检测装置11和高阻抗导通检测装置12，隔离感应装置13及隔离电源装置14，提供了一个悬浮状态下的检测回路，即阻抗检测�？镮中检测回路的零电位参考点为浮地。因此阻抗检测�？镮中的检测回路，与对待测产品18提供高压测试的高压产生装置42是在隔离的悬浮状态下进行检测的，因此可以在整个高压测试过程中对产品接触进行监视检测，不会因高压测试中对检测回路产生对测试的影响。将耐压测试器的连接检测装置与待测产品18连接好以后，启动隔离电源装置14， 低阻抗导通检测装置11、高阻抗导通检测装置12及隔离感应装置13开始工作，可以理解的是，本发明实施例中隔离电源装置14包括多个隔离电源，每个独立电源对低阻抗导通检测装置11和高阻抗导通检测装置12分别独立供电，当然隔离电源装置14也可以采用具有多输出控制的隔离电源，但是多输出控制的隔离电源成本较高，而且没有单独的隔离电源独立供电的隔离效果好。测试之初，按照上述方式连接好耐压测试器的连接检测装置与待测产品18后，隔离电源装置14同时启动低阻抗导通检测装置11与高阻抗导通检测装置12，低阻抗导通检测装置11是利用流经待测端电流大小原理作判断，该待测端即为待测产品接入耐压测试器的连接检测装置的两个连接端，高阻抗导通检测装置12是利用待测端阻抗大小所得分压值原理作判断。低阻抗导通检测装置11和高阻抗导通检测装置12分别在与其连接的隔离感应装置21和隔离感应装置22产生两路推动信号，两路推动信号同时输出至可编程逻辑闸2上，可编程逻辑闸2接收微处理器3上的设定信号，如果两路推动信号中有任何一路推动信号表示了连接不良(接触不可靠)，则可编程逻辑闸2就会通过内部比较单元将比较结果发送至微处理器3，微处理器3则会控制报警指示装置发出警报，操作人员重新连接待测产品，直到微处理器3控制报警指示装置31显示连接良好(接触可靠)，此时，操作人员在排出测试设备周围无人的情况下按下�？仄魃系钠舳？乜刂颇？�32接收到启动信号后，将启动信号发送给微处理器3，微处理器3通过I/O控制器5将启动信号发送至高压输出�？榈闹骺刂破�41，主控制器41便启动高压产生装置42在高压HV端输出高压，低压 LV端为高压产生装置之参考零电位，从而进入耐压测试阶段，在耐压测试阶段中，如果突然出现连接不良(接触不可靠)或者连接断开时，阻抗检测�？镮同样会产生表示连接不良的推动信号，经由可编程逻辑闸2发给微处理器3，微处理器3会及时通过I/O控制器5将关闭信号发给主控制器41，由主控制器41及时关闭高压产生装置42，同时微处理器3还会控制报警指示装置31发出警报，提示操作人员重新连接待测产品18，然后再重新进入测试阶段。实施例2
如图7所示，本发明实施例中的耐压测试器的连接检测装置具有多个高阻抗导通检测装置及多个低阻抗导通检测装置，因此定义本发明实施例中的耐压测试器的连接检测装置为多信道耐压测试器的连接检测装置。本发明实施例的耐压测试器的连接检测装置中，其高压输出�？�7还包括多个高压测试通道，如图7 Ca)中高压测试通道71分别连接高压产生装置的高压端HV端和低压端LV端，高压端HV端其实是高电压输出端，低压端LV端其实是高压零电位参考端。高压测试通道71内具有用于选择高压端输出或低压端输出的选通开关。因此，每个高压测试通道(CH、CHl-CHn)均可以由选通开关选择作为高压输出端或高压零电位参考端。本发明实施例中阻抗检测�？�101与上述实施例I中的阻抗检测�？镮略有不同，本发明实施例中的阻抗检测�？�101具有I个高阻抗导通检测模组100和多个低阻抗导通检测模组(110、11Ρ··11η)，所述高阻抗导通检测模组其电路结构如图7(b)所示，由高阻抗导通检测装置1011、隔离感应装置1012及隔离电源1013构成，对于高阻抗导通检测装置1011、隔离感应装置1012及隔离电源之间的连接与工作原理，可以参见上述实施例I中的详细介绍，此处不再赘述。所述低阻抗导通检测模组其电路结构如图7 (c)所示，由低阻抗导通检测装置1021、隔离感应装置1022及隔离电源1023构成。可以理解的是，作为本发明实施例的一种改进形式，阻抗检测模块101中的高阻抗导通检测模组与低阻抗导通检测模组以组合模式形成，组合数量与形式可以依测试需求作任意组合，即可以由一个高阻抗导通检测模组与多个低阻抗导通检测模组组合形成，也可以由一个低阻抗导通检测模组与多个高阻抗导通检测模组组合形成，还可以是由多个高阻抗导通检测模组与多个低阻抗检测模组组合形成。所述高阻抗导通检测模组其电路结构如图7 (b)所示，由高阻抗导通检测装置1011、隔离感应装置1012及隔离电源1013构成， 对于高阻抗导通检测装置1011、隔离感应装置1012及隔离电源之间的连接与工作原理，可以参见上述实施例I中的详细介绍，此处不再赘述。所述低阻抗导通检测模组其电路结构如图7 (c)所示，由低阻抗导通检测装置1021、隔离感应装置1022及隔离电源1023构成。可以理解的是，本发明实施例中的多信道耐压测试器的连接检测装置相对于上述实施例I中的单信道耐压测试器的连接检测装置，在结构上增加了低阻抗导通检测装置和 /或高阻抗导通检测装置，而工作原理仍与实施例I中的单信道耐压测试器的连接检测装置相同，因此对于多信道耐压测试器的连接检测装置的其他部分介绍可以参见实施例I中的详细介绍，此处不再赘述。本发明实施例中的多信道耐压测试器的连接检测装置能够同时对多个待测产品进行测试，因此相比实施例I中的单信道耐压测试器的连接检测装置，其工作效率得到了很大的提升。实施例3:
如图3所示，基于本发明提供的耐压测试器的连接检测装置，本发明实施例提供了一种耐压测试器的连接检测装置的连接检测方法，包括
步骤301 :判断待测产品是否与耐压测试器的连接检测装置连接可靠，如果是，则执行步骤302 :耐压测试器的连接检测装置输出测试电压至待测产品，如果否，则执行步骤303 耐压测试器的连接检测装置启动报警提示并停止输出测试电压。作为一种优选的实施方式，本发明实施例在步骤302之前还包括步骤304 :耐压测试器的连接检测装置接收�？仄舳藕�。而�？仄舳藕攀怯胁僮魅嗽痹谠抖送ü？仄鞣⒊龅�。本发明实施例中提供的耐压测试方法，能够充分保证待测产品完全处于连接良好 (接触可靠)的状态下进行，能够保证最终的测试结果的准确性。需要说明的是，由于本发明方法实施例与本发明产品实施例基于同一构思，具体内容可参见本发明产品实施例中的叙述，此处不再赘述。本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序可以存储于一计算机可读存储介质中，存储介质可以包括只读存储器(ROM，Read Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁盘或光盘等。以上对本发明实施例所提供的耐压测试器的连接检测装置及其连接检测方法进
9行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式
及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
权利要求
1.耐压测试器的连接检测装置，其特征在于，包括阻抗检测�？椋糜诩觳獠馐云鞯牧蛹觳庾爸糜氪獠分涞缌硬⒉贫藕�;可编程逻辑闸，用于将阻抗检测�？榈耐贫藕庞肷瓒ㄐ藕沤斜冉虾蟛优卸ㄐ藕挪⑹涑龈⒋砥鳎晃⒋砥鳎糜诮邮湛杀喑搪呒⒌牧优卸ㄐ藕挪⒏萘优卸ㄐ藕趴刂聘哐故涑瞿？榈钠舳蚬乇眨桓哐故涑瞿？椋糜诟菸⒋砥鞯拿畈哐共馐孕藕�。
2.如权利要求I所述的耐压测试器的连接检测装置，其特征在于所述阻抗检测模块包括至少一个低阻抗导通检测装置和至少一个高阻抗导通检测装置，隔离感应装置及隔离电源装置，其中，隔离电源装置为低阻抗导通检测装置、高阻抗导通检测装置及隔离感应装置提供工作电源，低阻抗导通检测装置和高阻抗导通检测装置连接到隔离感应装置，隔离感应装置输出至所述可编程逻辑闸。
3.如权利要求2所述的耐压测试器的连接检测装置，其特征在于所述隔离感应装置包括多个隔离感应电路，每个低阻抗导通检测装置或高阻抗导通检测装置均连接有一个隔离感应电路；所述隔离电源装置包括多个隔离电源，每个低阻抗导通检测装置或高阻抗导通检测装置均连接一个隔离电源。
4.如权利要求I或2或3所述的耐压测试器的连接检测装置，其特征在于高压输出模块包括主控制器和高压产生装置，主控制器通过I/O控制器连接至所述的微处理器，高压产生装置连接于主控制器。
5.如权利要求I或2或3所述的耐压测试器的连接检测装置，其特征在于所述微处理器上连接有报警指示装置。
6.如权利要求5所述的耐压测试器的连接检测装置，其特征在于所述微处理器还连接有用于接收远端测试控制信号的�？乜刂颇？椤�
7.如权利要求1、2或3所述的耐压测试器的连接检测装置，其特征在于所述高压输出�？榛拱ǘ喔龈哐共馐酝ǖ溃龈哐共馐酝ǖ婪直鹆痈哐共爸玫母哐苟撕偷脱苟耍哐共馐酝ǖ滥诰哂杏糜谘≡窀哐苟耸涑龌虻脱苟耸涑龅难⊥ǹ�。
8.如权利要求6所述的耐压测试器的连接检测装置，其特征在于所述高压输出�？榛拱ǘ喔龈哐共馐酝ǖ溃龈哐共馐酝ǖ婪直鹆痈哐共爸玫母哐苟撕偷脱苟耍� 高压测试通道内具有用于选择高压端输出或低压端输出的选通开关。
9.一种耐压测试器的连接检测装置的连接检测方法，其特征在于，包括步骤判断待测产品是否与耐压测试器的连接检测装置连接可靠，如果是，则耐压测试器的连接检测装置输出测试电压至待测产品，如果否，则耐压测试器的连接检测装置启动报警提示并停止输出测试电压。
10.如权利要求9所述的一种耐压测试器的连接检测装置的连接检测方法，其特征在于，所述耐压测试器的连接检测装置输出测试电压至待测产品的步骤之前还包括耐压测试器的连接检测装置接收�？仄舳藕�。
全文摘要
本发明公开了一种耐压测试器的连接检测装置及其连接测试方法，耐压测试器的连接检测装置包括阻抗检测�？椋杀喑搪呒ⅲ⒋砥骷案哐故涑瞿？椋杩辜觳饽？橛糜诩觳獠馐云鞯牧蛹觳庾爸糜氪獠分涞缌硬⒉贫藕牛晃⒋砥鳎邮湛杀喑搪呒⒌男藕挪⒏莶馐云鞯牧蛹觳庾爸糜氪獠分涞牧忧榭隹刂聘哐故涑瞿？�。能够实现测试全程对待测产品与测试器的连接检测装置之间的接触是否可靠进行监测，提高了测试结果的可靠性，保证了待测产品的测试质量。能够充分保证待测产品完全处于连接良好的状态下进行，能够保证最终测试结果的准确性。
文档编号G01R31/02GK102590779SQ20121008929
公开日2012年7月18日 申请日期2012年3月29日 优先权日2012年3月29日
发明者蔡李政勋 申请人:东莞帝佑仪器有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
