专利名称：一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电磁场的场均匀性的校准技术领域，特别涉及一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统。
背景技术：
对于射频电磁�。琁EC61000系列标准给出了两种电磁场的场均匀性的校准方法，即恒定场强校准法和恒定功率校准法。恒定场强校准法是通过调整前向输出功率建立一个场强恒定的均匀�。缓笥靡桓鼍Ｗ嫉某∏刻酵芬灾付ǖ牟匠ぴ诿扛銎刀味源馇蚰诘母鞲龅憬胁饬�。恒定功率校准法与之不同的是测量时保持前向输出功率恒定。对于瞬变电磁场，MIL-STD-461F标准采用了上述恒定场强校准法。但是，恒定场强校准法存在以下不足 (I)瞬变电磁场由脉冲信号源触发的单脉冲信号产生，为了获得恒定的电磁�。枰锤吹鹘诼龀逍藕旁吹氖涑龉β剩虼吮匦爰瓤梢宰既芳嗖馑寐龀逍藕旁吹氖涑龉β剩挚梢远运寐龀逍藕旁吹氖涑龉β式形⒌鳎园龀逍藕旁丛谀诘乃脖涞绱懦〔爸玫囊蟾撸�(2)通常需要用高压探头监测脉冲信号源的输出功率，在实际应用中有时很难实现；(3)校准时间较长，使用不方便。对于瞬变电磁�。绻捎煤愣üβ市Ｗ挤ǎ泊嬖谝韵挛侍�(I)需要脉冲信号源多次触发输出多个单脉冲信号，各个单脉冲信号的幅度很难完全保持一致，即存在脉冲信号源输出的各个单脉冲信号不稳定的问题，导致瞬变电磁场均匀性校准的准确度降低；(2)对脉冲信号源输出稳定性的要求导致瞬变电磁场产生装置的成本较高。用于校准瞬变电磁场的场均匀性的系统通常需要测试多个位置。校准瞬变电磁场的场均匀性时，不但需要支架支撑和固定测试探头，而且需要通过支架调节测试探头的位置和角度。具体地，校准瞬变电磁场的场均匀性时，通常需要通过调节支架来改变固定有探头的测试杆的角度和长度，甚至需要通过调节支架实现测试杆绕固定轴的转动。现有技术中的支架都不能直接实现上述功能，因此在用于校准瞬变电磁场的场均匀性时非常不便。目前，非常需要一种对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置要求低、快速、准确且低成本的瞬变电磁场的场均匀性的校准系统。
实用新型内容本实用新型的目的是提供一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统。本实用新型提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统包括支架、示波器、第一探头和第二探头；所述支架包括底座、转轴、圆拱形的第一拱衬、圆拱形的第二拱衬、第一测试杆、第二测试杆、第一旋钮、第二旋钮、第一探头固定装置和第二探头固定装置；所述第一探头固定于所述第一测试杆上，所述第二探头固定于所述第二测试杆上，且所述第一探头和所述第二探头与所述示波器电连接；所述底座的上表面设有凸起，所述转轴固定于所述凸起上，所述第一拱衬和所述第二拱衬设于所述底座的上表面，且所述凸起和所述转轴穿过所述第一拱衬和所述第二拱衬的中空部分，所述第一拱衬所在的平面和所述第二拱衬所在的平面分别与所述底座的上
表面垂直；所述第一测试杆和所述第二测试杆的底端分别呈“h”字形，所述第一测试杆和所述第二测试杆的底端分别与所述转轴铰接，且所述第一测试杆和所述第二测试杆分别能够绕所述转轴转动，所述第一拱衬被设置为穿过所述第一测试杆的底端的缺口，所述第二拱衬被设置为穿过所述第二测试杆的底端的缺口；所述第一拱衬上设有圆拱形的第一凹槽，所述第一旋钮上设有螺纹，所述第一测试杆底端的第二侧板上设有与所述第一旋钮配合的螺纹，所述第一旋钮穿过所述第一测试杆底端的第一侧板和所述第一凹槽与所述第一测试杆底端的第二侧板配合，通过旋紧所述第一旋钮能够使所述第一测试杆的位置固定；所述第二拱衬上设有圆拱形的第二凹槽，所述第二旋钮上设有螺纹，所述第二测试杆底端的第四侧板上设有与所述第二旋钮配合的螺纹，所述第二旋钮穿过所述第二测试杆底端的第三侧板和所述第二凹槽与所述第二测试杆底端的第四侧板配合，通过旋紧所述第二旋钮能够使所述第二测试杆的位置固定；所述第一探头固定装置设于所述第一测试杆上；所述第二探头固定装置设于所述第二测试杆上，所述第一探头固定装置能够沿所述第一测试杆自由滑动，所述第二探头固定装置能够沿所述第二测试杆自由滑动，所述第一探头固定装置上设有第三旋钮，所述第二探头固定装置上设有第四旋钮，通过旋紧所述第三旋钮能够使所述第一探头固定装置的位置固定，通过旋紧所述第四旋钮能够使所述第二探头固定装置的位置固定。优选地，所述第一拱衬和所述第二拱衬上分别设有角度刻度。优选地，所述第一测试杆的底端设有第一角度观察窗，所述第二测试杆的底端设有第二角度观察窗。优选地，所述第一测试杆和所述第二测试杆上分别设有长度刻度。优选地，所述第一探头固定装置上设有第一长度观察窗，所述第二探头固定装置上设有第二长度观察窗。优选地，所述凸起呈圆拱形。本实用新型具有如下有益效果(I)所述系统对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置的要求低，能够快速、准确地对瞬变电磁场的场均匀性进行校准；(2)所述系统的支架不仅能够用于支撑和固定探头，而且能够用于调节探头的位置和角度；(3)所述系统的支架对探头的位置和角度的调节精度高；(4)所述系统制作成本低，使用方便。
[0031]图I为本实用新型实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统的不意图；图2为本实用新型实施例的支架I的第一拱衬的示意图；图3为本实用新型实施例的支架I的第二拱衬的示意图；图4为本实用新型实施例的支架I的第一测试杆的侧视图；图5为本实用新型实施例的支架I的第一测试杆的正视图；图6为本实用新型实施例的支架I的第二测试杆的侧视图；图7为本实用新型实施例的支架I的第二测试杆的正视图。
具体实施方式
以下结合附图及实施例对本实用新型的内容作进一步的描述。本实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统包括支架I、示波器2、第一探头3和第二探头4，如图I所示。支架I包括底座11、转轴12、圆拱形的第一拱衬131、圆拱形的第二拱衬132、第一测试杆141、第二测试杆142、第一旋钮151、第二旋钮152、第一探头固定装置161和第二探头固定装置162。第一探头3固定于第一测试杆141上，第二探头4固定于第二测试杆142上，且第一探头3和第二探头4与示波器2电连接，如图I所示。底座11的上表面设有凸起17，转轴12固定于凸起17上，如图I所示。在本实施例中，凸起17呈例如圆拱形。第一拱衬131和第二拱衬132设于底座11的上表面，且凸起17和转轴12穿过第一拱衬131和第二拱衬132的中空部分，第一拱衬131所在的平面和第二拱衬132所在的平面分别与底座11的上表面垂直。第一测试杆141和第二测试杆142的底端分别呈“h”字形，如图4和图6所示。第一测试杆141和第二测试杆142的底端分别与转轴12铰接，且第一测试杆141和第二测试杆142分别能够绕转轴12转动。第一拱衬131被设置为穿过例如第一测试杆141的底端的缺口 1412 ;第二拱衬132被设置为穿过例如第二测试杆142的底端的缺口 1422。第一拱衬131上设有圆拱形的第一凹槽1311，如图I和图2所示。第一旋钮151上设有螺纹，第一测试杆141底端的第二侧板1414上设有与第一旋钮151配合的螺纹。第一旋钮151穿过第一测试杆141底端的第一侧板1413和第一凹槽1311与第一测试杆41底端的第二侧板414配合，通过旋紧第一旋钮51能够使第一测试杆41的位置固定。第二拱衬132上设有圆拱形的第二凹槽1321，如图I和图3所示。第二旋钮152上设有螺纹，第二测试杆142底端的第四侧板1424上设有与第二旋钮152配合的螺纹。第二旋钮152穿过第二测试杆142底端的第三侧板1423和第二凹槽1321与第二测试杆142底端的第四侧板1424配合，通过旋紧第二旋钮152能够使第二测试杆142的位置固定。第一探头固定装置161设于第一测试杆141上；第二探头固定装置162设于第二测试杆142上，如图I所示。第一探头固定装置161能够沿第一测试杆141自由滑动；第二探头固定装置162能够沿第二测试杆142自由滑动。第一探头固定装置161上设有例如第三旋钮1611 ;第二探头固定装置162上设有例如第四旋钮1621，如图5和图7所示。通过旋紧第三旋钮1611能够使第一探头固定装置161的位置固定；通过旋紧第四旋钮1621能够使第二探头固定装置162的位置固定。在本实施例中，第一探头固定装置161用于固定例如测试探头181，第二探头固定装置162用于固定例如参考探头182。在本实施例中，第一拱衬131和第二拱衬132上分别设有角度刻度。如图5和图7所不，第一测试杆141的底端设有例如第一角度观察窗1411,第二测试杆142的底端设有例如第二角度观察窗1421，用于观察角度刻度值。第一测试杆141和第二测试杆142上分别设有长度刻度。第一探头固定装置161上设有第一长度观察窗1612，第二探头固定装置162上设有第二长度观察窗1622，用于观察长度刻度。在本实施例中，第一探头3和第二探头4都通过例如光纤与示波器2电连接。第一探头3和第二探头4用于感测电磁场的场强。示波器2用于测量第一探头3和/或第二探头4的输出以计算场强值。所述系统对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置的要求低，能够快速、准确地对瞬变电磁场的场均匀性进行校准；所述系统的支架不仅能够用于支撑和固定探头，而且能够用于调节探头的位置和角度；所述系统的支架对探头的位置和角度的调节精度 高；所述系统制作成本低，使用方便。应当理解，以上借助优选实施例对本实用新型的技术方案进行的详细说明是示意性的而非限制性的。本领域的普通技术人员在阅读本实用新型说明书的基础上可以对实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。
权利要求1.用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统，其特征在于， 该系统包括支架(I)、示波器(2)、第一探头(3)和第二探头(4)； 所述支架(I)包括底座(11)、转轴(12)、圆拱形的第一拱衬(131)、圆拱形的第二拱衬(132)、第一测试杆(141)、第二测试杆(142)、第一旋钮(151)、第二旋钮(152)、第一探头固定装置(161)和第二探头固定装置(162)； 所述第一探头(3)固定于所述第一测试杆(141)上，所述第二探头(4)固定于所述第二测试杆(142)上，且所述第一探头(3)和所述第二探头(4)与所述示波器(2)电连接； 所述底座(11)的上表面设有凸起(17)，所述转轴(12)固定于所述凸起(17)上，所述第一拱衬(131)和所述第二拱衬(132)设于所述底座(11)的上表面，且所述凸起(17)和所述转轴(12)穿过所述第一拱衬(131)和所述第二拱衬(132)的中空部分，所述第一拱衬(131)所在的平面和所述第二拱衬(132)所在的平面分别与所述底座(11)的上表面垂直； 所述第一测试杆(141)和所述第二测试杆(142)的底端分别呈“h”字形，所述第一测试杆(141)和所述第二测试杆(142)的底端分别与所述转轴(12)铰接，且所述第一测试杆(141)和所述第二测试杆(142)分别能够绕所述转轴(12)转动，所述第一拱衬(131)被设置为穿过所述第一测试杆(141)的底端的缺口(1412)，所述第二拱衬(132)被设置为穿过所述第二测试杆(142)的底端的缺口(1422)； 所述第一拱衬(131)上设有圆拱形的第一凹槽(1311)，所述第一旋钮(151)上设有螺纹，所述第一测试杆(141)底端的第二侧板(1414)上设有与所述第一旋钮(151)配合的螺纹，所述第一旋钮(151)穿过所述第一测试杆(141)底端的第一侧板(1413)和所述第一凹槽(1311)与所述第一测试杆(141)底端的第二侧板(1414)配合，通过旋紧所述第一旋钮(151)能够使所述第一测试杆(141)的位置固定； 所述第二拱衬(132)上设有圆拱形的第二凹槽(1321)，所述第二旋钮(152)上设有螺纹，所述第二测试杆(142)底端的第四侧板(1424)上设有与所述第二旋钮(152)配合的螺纹，所述第二旋钮(152)穿过所述第二测试杆(142)底端的第三侧板(1423)和所述第二凹槽(1321)与所述第二测试杆(142)底端的第四侧板(1424)配合，通过旋紧所述第二旋钮(152)能够使所述第二测试杆(142)的位置固定； 所述第一探头固定装置(161)设于所述第一测试杆(141)上；所述第二探头固定装置(162)设于所述第二测试杆(142)上，所述第一探头固定装置(161)能够沿所述第一测试杆(141)自由滑动，所述第二探头固定装置(162)能够沿所述第二测试杆(142)自由滑动，所述第一探头固定装置(161)上设有第三旋钮(1611)，所述第二探头固定装置(162)上设有第四旋钮(1621)，通过旋紧所述第三旋钮(1611)能够使所述第一探头固定装置(161)的位置固定，通过旋紧所述第四旋钮(1621)能够使所述第二探头固定装置(162)的位置固定。
2.根据权利要求I所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统，其特征在于，所述第一拱衬(131)和所述第二拱衬(132)上分别设有角度刻度。
3.根据权利要求I所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统，其特征在于，所述第一测试杆(141)的底端设有第一角度观察窗(1411)，所述第二测试杆(142)的底端设有第二角度观察窗(1421)。
4.根据权利要求I所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统，其特征在于，所述第一测试杆(141)和所述第二测试杆(142)上分别设有长度刻度。
5.根据权利要求I所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统，其特征在于，所述第一探头固定装置(161)上设有第一长度观察窗(1612)，所述第二探头固定装置(162)上设有第二长度观察窗(1622)。
6.根据权利要求I所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统，其特征在于，所述凸起(17)呈圆拱形。
专利摘要本实用新型公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统，该系统包括支架(1)、示波器(2)、第一探头(3)和第二探头(4)；支架(1)包括底座(11)、转轴(12)、圆拱形的第一拱衬(131)、圆拱形的第二拱衬(132)、第一测试杆(141)、第二测试杆(142)、第一旋钮(151)、第二旋钮(152)、第一探头固定装置(161)和第二探头固定装置(162)；第一探头(3)固定于第一测试杆(141)上，第二探头(4)固定于第二测试杆(142)上，且第一探头(3)和第二探头(4)与示波器(2)电连接。所述系统对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置的要求低，能够快速、准确地对瞬变电磁场的场均匀性进行校准。所述系统的支架既能用于支撑和固定探头，又能用于调节探头的位置和角度。所述系统的支架对探头位置和角度的调节精度高。
文档编号G01R29/08GK202794351SQ20122043001
公开日2013年3月13日 申请日期2012年8月27日 优先权日2012年8月27日
发明者姚利军, 沈涛, 黄建领 申请人:北京无线电计量测试研究所
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