专利名称：一种测量平板型透明介质折射率的实验装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量平板型透明介质折射率的实验装置，具体地说是一种适用于理工科高校折射率测量相关实验及工业生产中平板型透明介质折射率监测的实验装置。
背景技术：
折射率是介质的一项重要光学参数，折射率测量相关实验是理工科高校比较基础的光学实验，同时折射率也是一些相关产品的重要性能指标。就平板型透明介质折射率的测量而言，实验中有利用阿贝折射仪测量的，其缺点是只适用于特定范围的介质折射率测量；有依据光束通过介质产生的侧向偏移，再利用线阵CCD或PSD传感器检测偏移量测量折射率的，其缺点是需确定光束入射角，并调节线阵CCD或PSD传感器与出射光线垂直，操作相对较难；还有利用干涉方法测量的，虽然能达到较高的精度，但其对实验条件要求较高， 操作繁琐。
发明内容针对以上问题，本实用新型的目的是提供一种测量范围不受限制、操作简便的平板型透明介质折射率的实验装置。为实现上述目的，本实用新型采用一种测量平板型透明介质折射率的实验装置， 一种测量平板型透明介质折射率的实验装置包括激光器、偏振片组、扩束镜、准直透镜I、准直透镜II、薄毛玻璃屏、待测平板型透明介质、摄像头、微型计算机，激光器、偏振片组、扩束镜、准直透镜I、准直透镜II、薄毛玻璃屏、待测平板型透明介质、摄像头依次共轴设置，摄像头与微型计算机连接。工作时，激光器、偏振片组、扩束镜、准直透镜I、准直透镜II、薄毛玻璃屏、待测平板型透明介质、摄像头调节至共轴，在光路中放入待测平板型透明介质前后，通过准直透镜 II的光束会聚点将发生轴向平移，相应的在薄毛玻璃屏上的光斑直径会发生变化，光斑经摄像头由微型计算机获�。缓蠼蠽B语言编程，由计算机实时测量光斑直径，在已知定标参数的情况，可根据光斑直径和平板型透明介质厚度给出折射率。本实用新型因将放入待测平板型透明介质前后，光束会聚点的轴向平移转化为了薄毛玻璃屏上光斑直径的变化，并由计算机实时测量光斑直径，大幅降低了操作要求、提高了测量效率。实验时，只需调节激光器、偏振片组、扩束镜、准直透镜I、准直透镜II、薄毛玻璃屏、待测平板型透明介质、摄像头至共轴，并事先进行定标，测量介质厚度，即可由计算机根据放入介质前后薄毛玻璃上光斑直径变化得出折射率，而对介质折射率大小没有限制， 操作简单便捷、省时省事。本实用新型适用于理工科高校折射率测量相关实验及工业生产中平板型透明介质折射率的监测，功能完善，性价比高。
[0007]图1是本实用新型实施例的剖视图。
具体实施方式
如图1所示，本实用新型的具体实施例是一种测量平板型透明介质折射率的实验装置，包括激光器1、偏振片组2、扩束镜3、准直透镜I 4、准直透镜II 5、待测平板型透明介质6、薄毛玻璃屏7、摄像头8、微型计算机10，激光器1、偏振片组2、扩束镜3、准直透镜I 4、准直透镜II 5、待测平板型透明介质6、薄毛玻璃屏7、摄像头8依次共轴设置，摄像头8 一端含有USB连接线9，USB连接线9另一端连接微型计算机10。
权利要求1.一种测量平板型透明介质折射率的实验装置，其特征在于测量平板型透明介质折射率的实验装置包括激光器、偏振片组、扩束镜、准直透镜I、准直透镜II、薄毛玻璃屏、待测平板型透明介质、摄像头、微型计算机，激光器、偏振片组、扩束镜、准直透镜I、准直透镜 II、薄毛玻璃屏、待测平板型透明介质、摄像头依次共轴设置，摄像头与微型计算机连接。
2.根据权利要求1所述的一种测量平板型透明介质折射率的实验装置，其特征在于 所述摄像头通过USB数据线与微型计算机连接。
专利摘要本实用新型涉及一种测量平板型透明介质折射率的实验装置，一种测量平板型透明介质折射率的实验装置包括激光器、偏振片组、扩束镜、准直透镜I、准直透镜II、薄毛玻璃屏、待测平板型透明介质、摄像头、微型计算机，激光器、偏振片组、扩束镜、准直透镜I、准直透镜II、薄毛玻璃屏、待测平板型透明介质、摄像头依次共轴设置，摄像头与微型计算机连接。本实用新型在光路系统中放入待测平板型透明介质前后，只需监测薄毛玻璃屏上光斑直径的变化，根据定标参数即可得出相应的折射率，适用于理工科高校折射率测量相关实验及工业生产中平板型透明介质折射率的监测，功能完善，性价比高。
文档编号G01N21/41GK202189012SQ20112033997
公开日2012年4月11日 申请日期2011年9月5日 优先权日2011年9月5日
发明者彭保进, 潘日敏, 许富洋 申请人:浙江师范大学
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