专利名称：影像感测�？楣δ芘卸ㄖ尉叩闹谱鞣椒�
技术领域：
本实用新型涉及一种感光芯片测试装置，尤其是一种影像感测模块功能判定治具。
背景技术：
在图像记录设备，例如摄像头，照相机，摄像机上均设有感光芯片，也叫影像感测器，现在使用最多的是CMOS影像感测器或CMOS感光芯片，在CMOS感光芯片应用到实际产品上之前，都要对其进行测试，测试时需用到专用的感光芯片测试设备，现有的感光芯片测试时，主要是采用黑白板人工取放&翻转，测试过程中用鼠标依次点选相关测试项目，以达到测试目的。此传统作业较适用于3百万像素以下的产品，不宜于高阶产品的生产需求；生产效率较低，人目视判断，误判率高。随着电子设备的广泛应用，如平板计算机，数码相机，智能手机，可视电话，车载导航仪等等，对芯片的质量以及像素都有了更高的要求，传统式测试将逐渐被淘汰。
发明内容本实用新型提供一种适用于高像素CMOS感光芯片测试，测试效率高、测试精度好的影像感测�？楣δ芘卸ㄖ尉�。为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案:它包括一底壳及相对底壳翻转开合的上盖，所述的底壳内设有电路板放置槽及测试夹具放置平台，电路板放置槽中放置有测试电路板，测试夹具放置平台上安装有测试夹具，所述的上盖上对应测试夹具放置平台的位置设有通孔，所述的通孔上设有背光板组件，背光板组件包括一背光板及设于背光板上方和下方的背光板上盖板和背光板下固定板，所述的背光板下固定板上对应测试夹具的位置设有透光孔，所述的背光板组件可相对上盖的通孔水平移动以露出和覆盖测试夹具。上述结构中，所述的上盖的通孔中设有在背光板组件覆盖测试夹具时触发测试的触发开关。上述结构中，所述的上盖上还设有电流表，所述的电流表连接测试电路板。上述结构中，所述的背光板组件上固定一便于驱动背光板组件平移的控制柄，所述的上盖上设有容纳控制柄作往复运动的条形槽。上述结构中，所述的底壳侧壁设有穿线孔，所述的测试电路板的连接线由穿线孔引出到壳体外部。上述结构中，所述的上壳底面位于电流表下方设有电流表穿线孔，所述的电流表连接线经电流表穿线孔与测试电路板连接。由于采用了上述结构，本实用新型的影像感测模块功能判定治具操作简单，无需专业技能培训，摒弃以往繁冗的操作步骤，操作人员只有取放产品及从PC上读取测试判定结果即可，可适用于高精度的感光芯片测试，测试效率高，测试精度好。
图1是本实用新型实施例的左视结构示意图；图2是本实用新型实施例的俯左视结构示意图；图3是本实用新型实施例的爆炸图。
具体实施方式
如图1-3所示，本实施例的影像感测�？楣δ芘卸ㄖ尉甙ㄒ豢翘澹龅目翘灏ㄒ坏卓荌及相对底壳翻转开合的上盖2，所述的底壳I内设有电路板放置槽101及测试夹具放置平台102，电路板放置槽101中放置有测试电路板，测试夹具放置平台102上安装有测试夹具，上盖2上对应测试夹具放置位处设有一背光板3。其中，测试电路板和测试夹具的工作原理和结构与现有技术相同，图中未示出。为了便于待测感光芯片的取放，本实施例中，所述的上盖2上对应测试夹具放置平台的位置设有通孔201，所述的背光板3上方和下方分别设有背光板上盖板4和背光板下固定板5，所述的背光板下固定板5上对应测试夹具的位置设有透光孔501，背光板上盖板4、背光板3和背光板下固定板5组成背光板组件，所述的背光板组件可通过轨道203相对上盖的通孔201水平移动以露出和覆盖测试夹具。为了在关闭背光板组件的时候自动触发测试操作，本实施例中，所述的上盖2的通孔201中设有在背光板组件覆盖测试夹具时触发测试的触发开关6。在背光板组件覆盖通孔201时，触发开关被触发，自动开始测试。为了对测试过程中的电流情况进行实时监控，本实施例，所述的上盖2上还设有电流表7，所述的电流表7连接测试电路板。由于批量测试时需要频繁的对背光板组件进行平移以更换待测感光芯片，为了偏于操作人员的操作，提高操作效率，本实施例中，所述的背光板组件上固定一便于驱动背光板组件平移的控制柄8，所述的上盖2上设有容纳控制柄作往复运动的条形滑槽202。上述结构中，具体的，所述的底壳I侧壁设有穿线孔103，所述的测试电路板的连接线由穿线孔103引出到壳体外部；所述的上壳底面位于电流表下方设有电流表穿线孔，所述的电流表连接线经电流表穿线孔与测试电路板连接。本实施例的影像感测�？楣δ芘卸ㄖ尉咴诠ぷ魇保秩缦虏街�:1、推动控制柄8，使背光板组件从上盖2的通孔201上平移打开，露出内部的测试夹具，并在测试夹具上放置待测芯片；2、反向驱动控制柄8，是背光板组件覆盖上盖2上的通孔201，同时触发开关被触发，测试开始；3、在与治具相连的PC上观测测试状态和结果；4、推动控制柄8，推动背光板组件在轨道203上平移使上盖2的通孔201打开，露出内部的测试夹具，取出待测芯片并根据测试结果分级摆放；5、继续下一个待测芯片测试或结束测试工序。以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
权利要求1.一种影像感测�？楣δ芘卸ㄖ尉撸涮卣髟谟�:包括一底壳及相对底壳翻转开合的上盖，所述的底壳内设有电路板放置槽及测试夹具放置平台，电路板放置槽中放置有测试电路板，测试夹具放置平台上安装有测试夹具，所述的上盖上对应测试夹具放置平台的位置设有通孔，所述的通孔上设有背光板组件，背光板组件包括一背光板及设于背光板上方和下方的背光板上盖板和背光板下固定板，所述的背光板下固定板上对应测试夹具的位置设有透光孔，所述的背光板组件可相对上盖的通孔水平移动以露出和覆盖测试夹具。
2.如权利要求1所述的影像感测模块功能判定治具，其特征在于:所述的上盖的通孔中设有在背光板组件覆盖测试夹具时触发测试的触发开关。
3.如权利要求2所述的影像感测�？楣δ芘卸ㄖ尉撸涮卣髟谟�:所述的上盖上还设有电流表，所述的电流表连接测试电路板。
4.如权利要求3所述的影像感测�？楣δ芘卸ㄖ尉撸涮卣髟谟�:所述的背光板组件上固定一便于驱动背光板组件平移的控制柄，所述的上盖上设有容纳控制柄作往复运动的条形槽。
5.如权利要求4所述的影像感测�？楣δ芘卸ㄖ尉撸涮卣髟谟�:所述的底壳侧壁设有穿线孔，所述的测试电路板的连接线由穿线孔引出到壳体外部。
6.如权利要求5所述的影像感测�？楣δ芘卸ㄖ尉撸涮卣髟谟�:所述的上壳底面位于电流表下方设有电流表穿线孔，所述的电流表连接线经电流表穿线孔与测试电路板连接。
专利摘要本实用新型涉及一种感光芯片测试装置，尤其是一种影像感测�？楣δ芘卸ㄖ尉�。它包括一底壳及相对底壳翻转开合的上盖，所述的底壳内设有电路板放置槽及测试夹具放置平台，电路板放置槽中放置有测试电路板，测试夹具放置平台上安装有测试夹具，所述的上盖上对应测试夹具放置平台的位置设有通孔，所述的通孔上设有背光板组件，背光板组件包括一背光板及设于背光板上方和下方的背光板上盖板和背光板下固定板，所述的背光板下固定板上对应测试夹具的位置设有透光孔，所述的背光板组件可相对上盖的通孔水平移动以露出和覆盖测试夹具。本实用新型操作简单可适用于高精度的感光芯片测试，测试效率高，测试精度好。
文档编号G01R31/26GK202956470SQ201220535090
公开日2013年5月29日 申请日期2012年10月18日 优先权日2012年10月18日
发明者洪伟 申请人:东莞旺福电子有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
